[发明专利]测试系统、测试方法及计算机可读存储介质在审
申请号: | 202011494506.4 | 申请日: | 2020-12-17 |
公开(公告)号: | CN112240944A | 公开(公告)日: | 2021-01-19 |
发明(设计)人: | 衣存宇;洪申平;沙宏磊;沈虹;韩景超;刘万虎;李凯;魏靖;董丽佳 | 申请(专利权)人: | 天津飞旋科技有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R1/067;G01R31/28;G01M13/04 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 安卫静 |
地址: | 300457 天津市滨*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 系统 方法 计算机 可读 存储 介质 | ||
1.一种测试系统,其特征在于,包括:测试夹具、探针测试基板、测试系统主板和上位机;
所述测试夹具和所述探针测试基板用于连接被测试主控制板;
所述上位机用于向所述测试系统主板下发测试指令;
所述探针测试基板还用于在所述上位机发送所述测试指令后采集所述被测试主控制板产生的测试信号;
所述测试系统主板用于获取所述探针测试基板采集的所述测试信号,并对所述测试信号进行处理后将测试结果上传至所述上位机;
所述上位机还用于显示所述测试结果;
所述测试信号包括所述被测试主控制板的传感器输出的位置信息;所述上位机还用于根据接收到的所述位置信息监测轴承轨迹以及确定轴承的安装位置是否合理。
2.根据权利要求1所述的测试系统,其特征在于,所述测试系统主板还用于将获取的所述测试信号发送至所述上位机进行显示。
3.根据权利要求1所述的测试系统,其特征在于,所述测试系统主板还用于根据所述上位机下发的所述测试指令向所述被测试主控制板发送测试激励信号、PWM信号和模拟信号。
4.根据权利要求1所述的测试系统,其特征在于,所述探针测试基板上包括多个测试探针,所述测试探针与所述被测试主控制板的测试点相连接;所述探针测试基板通过所述测试探针采集所述被测试主控制板产生的测试信号。
5.根据权利要求1所述的测试系统,其特征在于,所述测试夹具和所述探针测试基板之间通过测试探针相连接;所述探针测试基板和所述测试系统主板之间通过FPC排线相连接;所述测试系统主板和所述上位机之间通过USB模块相连接。
6.根据权利要求1所述的测试系统,其特征在于,所述测试系统主板包括双核处理器:DSP处理器和FPGA 处理器。
7.一种测试方法,其特征在于,所述方法应用于权利要求1至6任一项所述的测试系统,包括:
通过上位机向测试系统主板发送测试指令;
根据所述测试指令,通过所述测试系统主板向被测试主控制板发送测试激励信号;
判断所述被测试主控制板是否产生测试信号;
如果所述被测试主控制板产生所述测试信号,通过所述测试系统主板对所述测试信号进行处理,并将测试结果上传至所述上位机;
如果所述被测试主控制板没有产生所述测试信号,重新通过所述测试系统主板向被测试主控制板发送测试激励信号。
8.根据权利要求7所述的测试方法,其特征在于,所述测试信号包括所述被测试主控制板的传感器输出的位置信息;
所述通过所述测试系统主板对所述测试信号进行处理,并将测试结果上传至所述上位机的步骤,包括:
通过所述测试系统主板获取所述被测试主控制板的传感器输出的位置信息;
将所述位置信息上传至所述上位机进行显示;
根据所述位置信息判断轴承轨迹以及确定轴承的安装位置是否合理。
9.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理设备运行时执行上述权利要求7至8任一项所述的方法的步骤。
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