[发明专利]用于老化加电的COS夹具

说明书

本发明提供了一种用于老化加电的COS夹具，属于半导体激光器生产夹具技术领域，包括限位板、压板、冷却组件，限位板为绝缘体，限位板上设有多个COS封装芯片安装位；压板上对应设有多个电极，相邻电极上分别设有第一探针和第二探针，第一探针和第二探针通过压板压触对应的COS封装芯片，相邻电极上相邻的第一探针和第二探针分别压触同一COS封装芯片的正极和负极，多个电极、第一探针、第二探针及COS封装芯片形成串联电路；冷却组件用于对COS封装芯片进行冷却。本发明提供的用于老化加电的COS夹具，可批量对COS封装的芯片进行加电，提高了生产效率。

技术领域

本发明属于半导体激光器生产夹具技术领域，更具体地说，是涉及一种用于老化加电的COS夹具。

背景技术

大功率半导体激光器芯片在进行下一步封装之前，有时需要进行老化抽检，以测试该批芯片的可靠性，可靠性不合格的芯片批次则不能进行下一步封装。由于大功率半导体激光器所需散热量较大，并且单只加电电流较大，可达十安培以上，所以通常选用的半成品芯片封装形式为COS形式。

大功率半导体激光器的芯片在进行老化测试时，需要的加电电流较大，产生的热量较高，批量加电容易引起芯片及设备过热，因此现有的老化测试设备一次只能对一个COS封装的芯片进行加电。

发明内容

本发明的目的在于提供一种用于老化加电的COS夹具，旨在解决现有技术中无法对COS封装形式的大功率半导体激光器芯片进行批量老化加电的问题。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案是：提供一种用于老化加电的COS夹具，包括限位板、压板、冷却组件，限位板为绝缘体，限位板上设有多个COS封装芯片安装位；压板上对应设有多个电极，相邻电极上分别设有第一探针和第二探针，第一探针和第二探针通过压板压触对应的COS封装芯片，相邻电极上相邻的第一探针和第二探针分别压触同一COS封装芯片的正极和负极，多个电极、第一探针、第二探针及COS封装芯片形成串联电路；冷却组件用于对COS封装芯片进行冷却。

作为本申请另一实施例，冷却组件包括冷却台，限位板设于冷却台上，安装位为限位孔，COS封装芯片放入限位孔。

作为本申请另一实施例，冷却台组件还包括基板，基板具有导热性，冷却台上设有基板，限位板通过基板设于冷却台上。

作为本申请另一实施例，电极上设有穿线孔和压线孔，穿线孔用于穿设去皮导线，压线孔与穿线孔相连通，压线孔为螺纹孔，压线孔螺纹连接有压紧螺栓，压紧螺栓用于将去皮导线压紧在穿线孔中。

作为本申请另一实施例，电极的两侧的侧壁上设有凹槽，第一探针、第二探针分别设于两侧的凹槽中。

作为本申请另一实施例，冷却台上设有螺杆，螺杆穿过基板，限位板上设有第一通孔，压板上设有第二通孔，螺杆穿过所述第一通孔与第二通孔，螺杆上螺纹连接有第一螺母，压板通过第一螺母调节第一探针、第二探针对COS封装芯片的压触力。

作为本申请另一实施例，螺杆上设有第二螺母，第二螺母的上端面高于限位板，第二螺母用于限制压板下压的极限位置，

作为本申请另一实施例，冷却台上设有通水通道，通水通道用于冷却水的流通。

作为本申请另一实施例，压板上设有安装孔，安装孔与电极相匹配，电极设于安装孔中。

作为本申请另一实施例，电极下端设有凸台，凸台与压板接触，电极通过凸台与压板连接。