[发明专利]回转轴精度检测设备和回转轴精度检测方法

权利要求书

1.一种回转轴精度检测设备，其特征在于，包括：

校准装置(100)，所述校准装置(100)包括壳体(110)和安装在所述壳体(110)上的回转部件(120)，所述回转部件(120)相对于所述壳体(110)可转动地设置，以根据所述壳体(110)正转的角度值，所述回转部件(120)回转相同的角度值；

光线发射器(200)，所述回转部件(120)上设置有反光探头(121)，所述光线发射器(200)用于向所述回转部件(120)的反光探头(121)发射光线，并根据所述光线发射器(200)所反射的光线得出所述回转部件(120)是否回转到位，以记录所述回转部件(120)的实际回转角度；

其中，所述壳体(110)用于安装在机床的回转轴(112)上，通过CNC程序设定所述回转轴(112)在某一时段旋转ɑ°，所述光线发射器(200)在专用测量软件上同步设定所述回转部件(120)旋转ɑ°，然后执行NC程序，以将所述回转轴(112)的预设转动角度与所述回转部件(120)的实际回转角度对比，得出所述回转轴(112)的转动补偿值。

2.根据权利要求1所述的回转轴精度检测设备，其特征在于，所述光线发射器(200)为激光干涉仪。

3.根据权利要求1所述的回转轴精度检测设备，其特征在于，所述回转轴精度检测设备还包括：

角度干涉装置(300)，所述角度干涉装置(300)具有用于对所述光线发射器(200)所发出的光线进行干涉的透光镜(310)，所述回转部件(120)上设置有多个所述反光探头(121)，以分别对经过所述透光镜(310)干涉处的多束光线进行反光。

4.根据权利要求3所述的回转轴精度检测设备，其特征在于，所述反光探头(121)为两个，所述透光镜(310)用于干涉出两束光线。

5.根据权利要求4所述的回转轴精度检测设备，其特征在于，两个所述反光探头(121)沿垂直于所述回转轴(112)的轴线的方向布置。

6.根据权利要求3所述的回转轴精度检测设备，其特征在于，所述角度干涉装置(300)包括：

连接架，所述连接架用于安装在所述机床的主轴(333)上；

安装架(330)，所述安装架(330)与所述连接架连接，所述透光镜(310)设置在所述安装架(330)上。

7.根据权利要求6所述的回转轴精度检测设备，其特征在于，所述连接架包括用于与所述主轴(333)连接的连接块(321)和用于与所述安装架(330)连接的连接轴(322)，所述安装架(330)为条形，所述安装架(330)的一端与所述连接轴(322)连接，所述安装架(330)的另一端与所述校准装置(100)相对。

8.根据权利要求1所述的回转轴精度检测设备，其特征在于，所述壳体(110)上设置有安装环(111)，所述壳体(110)通过所述安装环(111)安装在所述回转轴(112)上；所述安装环(111)的轴线与所述回转轴(112)的轴线重合。

9.一种回转轴精度检测方法，其特征在于，适用于权利要求1至8中任一项所述的回转轴精度检测设备，所述回转轴精度检测方法包括：

利用数控系统设定机床的回转轴(112)的预定旋转角度；

将所述回转轴精度检测装置的回转部件(120)的预定回转角度设定为所述预定旋转角度；

检测所述回转部件(120)的实际回转角度；

将所述实际回转角度与所述预定回转角度进行比较，以得出所述回转轴(112)的补偿值。