[发明专利]一种集成电路交替式验证方法及系统有效
申请号: | 202011498790.2 | 申请日: | 2020-12-17 |
公开(公告)号: | CN112507641B | 公开(公告)日: | 2022-07-05 |
发明(设计)人: | 陈岚;张金华;张义恒;冯新华 | 申请(专利权)人: | 中科芯云微电子科技有限公司 |
主分类号: | G06F30/30 | 分类号: | G06F30/30;G06F119/02 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 李晓光 |
地址: | 266101 山*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 集成电路 交替 验证 方法 系统 | ||
本发明提供了一种集成电路交替式验证方法及系统,该集成电路交替式验证系统,通过使用多种验证工具并灵活配置交替验证,可尽可能多的发现问题,并且通过结果预判模块,还可以尽可能早的定位问题所在,能及时、精确、穷尽的验证集成电路设计中存在的问题,提高了验证的覆盖率,为集成电路的设计提供可靠依据。
技术领域
本发明涉及微电子技术领域,更具体地说,涉及一种集成电路交替式验证方法及系统。
背景技术
随着科学技术的不断发展,在集成电路领域中,对集成电路的正确性以及可靠性进行验证是十分重要的,也就是说,集成电路验证是集成电路设计中不可或缺的重要组成部分,其主要用于查找集成电路设计中存在的各种问题,保证其设计的正确性。
但是,随着现阶段集成电路产业的迅速发展,验证集成电路正确性这一过程也随之出现诸多困难。
那么,如何提供一种高效的集成电路验证方法,是本领域技术人员亟待解决的技术问题。
发明内容
有鉴于此,为解决上述问题,本发明提供一种集成电路交替式验证方法及系统,技术方案如下:
一种集成电路交替式验证系统,所述集成电路交替式验证系统包括:验证模块、切换控制模块和结果分析模块;
所述验证模块包括至少两种验证模式不同的验证单元,每一种所述验证单元中均包括第一级至第n级验证子单元,n为大于1的正整数;每一种所述验证单元中的第一级验证子单元均接收待验证数据,且上一级验证子单元的输出结果输送至任意一种所述验证单元中的下一级验证子单元;
所述切换控制模块用于控制每一种所述验证单元中第一级至第n-1级验证子单元的输出结果是否进行验证模式切换;
所述结果分析模块用于接收每一种所述验证单元中第n级验证子单元的输出结果。
可选的,在上述集成电路交替式验证系统中,所述集成电路交替式验证系统还包括:输入模块;
所述输入模块用于接收所述待验证数据,并将所述待验证数据输送至每一种所述验证单元中的第一级验证子单元。
可选的,在上述集成电路交替式验证系统中,所述集成电路交替式验证系统还包括:结果预判模块;
所述结果预判模块用于接收每一种所述验证单元中每一级验证子单元的输出结果;
所述切换控制模块还用于控制所述结果预判模块依据所述输出结果进行预判断并生成预判断结果;
所述结果预判模块还用于将所述预判断结果反馈至本级验证子单元。
可选的,在上述集成电路交替式验证系统中,所述本级验证子单元依据所述预判断结果对所述本级验证子单元的输出结果进行修正。
可选的,在上述集成电路交替式验证系统中,每一种所述验证单元中验证子单元的级数相同。
一种集成电路交替式验证方法,所述集成电路交替式验证方法应用于上述任一项所述的集成电路交替式验证系统;
所述集成电路交替式验证方法包括:
获取待验证数据;
将所述待验证数据输送至每一种验证单元中的第一级验证子单元;
判断是否进行验证模式切换;
若是,则将上一级验证子单元的输出结果输送至另一种验证单元中的下一级验证子单元;若否则将上一级验证子单元的输出结果输送至自身验证单元中的下一级验证子单元;
接收每一种所述验证单元中第n级验证子单元的输出结果。
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