[发明专利]芯片系统级测试方法、装置及系统

权利要求书

1.一种芯片系统级测试方法，其特征在于，包括：

步骤S1、当测试服务器接收到用户提交的芯片的测试需求信息时，根据所述测试需求信息进行测试初始化；

步骤S2、当待测芯片放置完毕时所述测试服务器给测试主机上的放置有待测芯片的测试主板上电，并接收所述测试主机返回的芯片信息；

步骤S3、所述测试服务器根据所述芯片信息从数据库中下载与其对应的之前站别的测试结果数据，根据所述测试需求信息和所述测试结果数据生成定制化的芯片参数；

步骤S4、所述测试服务器将所述定制化的芯片参数发送给测试主机，写入到待测芯片中；

步骤S5、当所述测试服务器接收到所述测试主机反馈的测试结果数据时，将所述测试结果数据上传至数据库中，根据所述测试结果数据和预设分类规则对待测芯片进行分类。

2.根据权利要求1所述的芯片系统级测试方法，其特征在于：所述步骤S2之前还包括：所述测试服务器与所述测试主机建立TCP/IP网络连接。

3.根据权利要求1所述的芯片系统级测试方法，其特征在于：所述芯片信息包括芯片序列号，所述测试结果数据包括芯片序列号、测试站别和测试结果；所述步骤S3中所述测试服务器根据所述芯片信息从数据库中下载与其对应的之前站别的测试结果数据具体为所述测试服务器根据所述芯片序列号从数据库中查找到与之对应的测试结果数据，并获取所述测试结果数据中所包含的之前站别的测试结果，所述之前站别的测试结果具体为系统级测试之前所进行的测试中的任一测试中的至少一种所生成的测试结果。

4.根据权利要求1所述的芯片系统级测试方法，其特征在于：所述步骤S2之前还包括：所述测试服务器与分类机械臂服务器建立UDP网络连接，所述测试服务器通过与所述分类机械臂服务器进行通信控制与所述分类机械臂服务器连接的分类机械臂完成所述待测芯片的放置。

5.根据权利要求1所述的芯片系统级测试方法，其特征在于：所述步骤S5还包括所述测试服务器向测试用户显示分类结果；或者是包括所述测试服务器通过向分类机械臂服务器发送所述分类结果，控制与所述分类机械臂服务器连接的分类机械臂拾取所述待测芯片放置到对应的出料盘中。

6.根据权利要求1所述的芯片系统级测试方法，其特征在于：所述步骤S5还包括当所有待测芯片测试完成时，所述测试服务器向所述测试主机发送关机指令结束测试。

7.根据权利要求1所述的芯片系统级测试方法，其特征在于：所述测试服务器与所述测试主机之间的通信数据是经过加密的，所述数据库中存储的测试结果数据采用密文形式存储。

8.一种芯片系统级测试装置，其特征在于：所述装置包括人机交互模块、调试工具交互模块和数据处理模块；

所述人机交互模块，用于获取测试用户提交的芯片的测试需求信息，根据所述测试需求信息进行测试初始化，以及将所述测试需求信息发送给所述数据处理模块；

所述调试工具交互模块，用于给测试主机上的放置有待测芯片的测试主板上电，并读取芯片信息发送给所述数据处理模块；

所述数据处理模块，用于根据所述芯片信息从数据库中下载与其对应的之前站别的测试结果数据，根据所述测试需求信息和所述测试结果数据生成定制化的芯片参数；还用于将所述定制化的芯片参数发送给测试主机，写入到待测芯片中；还用于接收所述测试主机反馈的测试结果数据，将所述测试结果数据上传至数据库中，根据所述测试结果数据和预设分类规则对待测芯片进行分类。

9.根据权利要求8所述的芯片系统级测试装置，其特征在于：所述装置还包括硬件控制模块，用于通过与分类机械臂服务器交互来控制分类机械臂放置待测芯片；还用于根据所述数据处理模块发送的分类结果控制分类机械臂拾取待测芯片放置到对应出料盘中。

10.一种芯片系统级测试系统，其特征在于：包括如权利要求8或9所述的芯片系统级测试装置，以及与其连接的至少一台测试主机，所述测试主机包括用于放置待测芯片的测试主板。