[发明专利]一种工业制品缺陷检测方法、装置、终端设备及存储介质

权利要求书

1.一种工业制品缺陷检测方法，其特征在于，包括：

获取无缺陷的工业制品的第一图像，将所述第一图像划分为多个第一图像块；

获取待检测的工业制品的第二图像，将所述第二图像划分为多个第二图像块；

通过比较第一图像块和对应的第二图像块之间的相似度，判断所述第二图像块是否存在异常；其中，若所述相似度小于阈值时，则第二图像块存在异常；若所述相似度大于所述阈值时，则第二图像块不存在异常；所述阈值随着待检测工业制品的数量增多而逐渐增大；

若所述第二图像块存在异常，对所述第二图像块进行缺陷定位；其中，采用高斯混合模型对所述第二图像块进行深入检测，定位工业制品的缺陷位置；所述高斯混合模型的建立方法为：在检测初期，通过将相似度的阈值设置的足够大，使得所有的第二图像块都被认为是缺陷可能存在的区域，使其待检测工业制品的第二图像块成为高斯混合模型的训练图库；高斯混合模型使用K个高斯模型对工业检测图像上像素点的像素值进行建模，当有新的图像到来时，像素值与对应的K个高斯模型进行匹配；根据匹配的结果，利用当前图像和当前背景图像进行加权平均来更新背景。

2.一种工业制品缺陷检测装置，其特征在于，包括：

图像采集模块；用于采集无缺陷工业制品的第一图像以及待检测工业制品的第二图像；

图像处理模块，用于将所述第一图像划分为多个第一图像块，将第二图像划分为多个第二图像块；

比较模块，用于比较所述第一图像块和对应的所述第二图像块之间的相似度；

判断模块，用于判断所述第二图像块存在异常，对所述第二图像块进行缺陷定位；其中，若所述相似度小于阈值时，则第二图像块存在异常；若所述相似度大于所述阈值时，则第二图像块不存在异常；所述阈值随着待检测工业制品的数量增多而逐渐增大；其中，采用高斯混合模型对所述第二图像块进行深入检测，定位工业制品的缺陷位置；所述高斯混合模型的建立方法为：在检测初期，通过将相似度的阈值设置的足够大，使得所有的第二图像块都被认为是缺陷可能存在的区域，使其待检测工业制品的第二图像块成为高斯混合模型的训练图库；高斯混合模型使用K个高斯模型对工业检测图像上像素点的像素值进行建模，当有新的图像到来时，像素值与对应的K个高斯模型进行匹配；根据匹配的结果，利用当前图像和当前背景图像进行加权平均来更新背景。

3.一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1所述的工业制品缺陷检测方法的步骤。

4.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1所述的工业制品缺陷检测方法的步骤。