[发明专利]一种应用于线列探测器的自判别变频抽样多采样方法有效

专利信息
申请号: 202011502662.0 申请日: 2020-12-18
公开(公告)号: CN112729554B 公开(公告)日: 2022-07-29
发明(设计)人: 朱寅非;魏俊杰 申请(专利权)人: 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所
主分类号: G01J5/48 分类号: G01J5/48;G01J5/06;G06T7/00;G06T7/90;G06F17/18
代理公司: 西安凯多思知识产权代理事务所(普通合伙) 61290 代理人: 王鲜凯
地址: 471099 *** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 一种 应用于 探测器 判别 变频 抽样 采样 方法
【权利要求书】:

1.一种应用于线列探测器的自判别变频抽样多采样方法,其特征在于步骤如下:

步骤1:在探测器输出的模拟信号采样位置范围内进行m次采样,得到采样数据gi,T为一个像素所占用的时间,探测器输出的像素的最高频率为fmax,采样频率为fc,设置倍率最终探测器采样位置在范围内采集m个数据,m<n;

步骤2:对采样数据gi中的m个数据,进行排序,去除掉m个数据中的最大值、最小值,对剩余m-2个数据进行以下计算得到输出数据:

步骤3:对gC数据进行非均匀校正;

步骤4、对经过非均匀校正后的图像进行图像质量评价并调整:

步骤a、首先以图像灰度方差Iσ进行图像质量评价并调整,当均匀背景下方差Iσ≥2.5时,返回步骤1,调整采样速率、抽样点位置,再从步骤2开始执行,当方差Iσ最小值达到Iσmin时,执行步骤b;

所述图像灰度方差

其中,其中图像I的分辨率大小为M×N,I(i,j)为在像素位置(i,j)处的灰度值;

步骤b、然后以图像粗糙度ρ进行图像质量评价并调整,重复步骤1~步骤3,调整采样速率、抽样点位置,直至找到最小值ρmin时,执行步骤c;

(1)以尺寸为n×n的窗从左到右、从上到下的方式对图像进行滑动取均值,即求得图像中每个可滑动到的n×n矩阵的均值,得到一个均值矩阵;

(2)分别求得该均值矩阵的水平、垂直和对角方向上的绝对梯度矩阵,对三个绝对梯度矩阵进行取最大值操作,得到矩阵DK

图像的粗糙度为:

步骤c、以峰值信噪比PSNR进行图像质量评价并调整,重复步骤1~步骤3,调整采样速率、抽样点位置,判断峰值信噪比使PSNR达到最大值;

所述峰值信噪比

其中,L表示图像像素的最大取值范围,MSEk表示待评价图像和参考图像之间的均方误差。

2.根据权利要求1所述应用于线列探测器的自判别变频抽样多采样方法,其特征在于所述步骤2以下述处理方式替换:对m个数据进行排序,找到m个数据中的最大值作为最终输出值:gC=gimax

3.根据权利要求1所述应用于线列探测器的自判别变频抽样多采样方法,其特征在于所述步骤2以下述处理方式替换:对m个数据进行排序,找到m个数据中的最小值作为最终输出值gC=gimin

4.根据权利要求1所述应用于线列探测器的自判别变频抽样多采样方法,其特征在于所述步骤2以下述处理方式替换:对m个数据进行以下计算作为最终输出值:

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