[发明专利]片上系统后仿真方法、装置及电子设备

说明书

本申请涉及芯片设计制作技术领域，具体而言，涉及一种片上系统后仿真方法、装置及电子设备。片上系统后仿真方法，包括：基于片上系统的芯片数据库，获取目标模块的第一延时数据，目标模块为片上系统包括的目标子系统中，需要通过除目标子系统以外的其他子系统发送激励信号的功能模块，第一延时数据为激励信号的延时数据；根据第一延时数据对预设的初始时序模型进行反标，获得目标时序模型；根据目标时序模型对初始网表进行更新，获得目标网表，初始网表为目标子系统的电路网表；基于目标网表，对目标子系统进行后仿真操作。本申请实施例提供的片上系统后仿真方法能够提高片上系统的后仿真效率，同时，提高片上系统的后仿真质量。

技术领域

本申请涉及芯片设计制作技术领域，具体而言，涉及一种片上系统后仿真方法、装置及电子设备。

背景技术

片上系统验证涉及功能仿真、前仿真和后仿真，其中，后仿真是指片上系统的版图设计完成之后，将寄生参数、互连延迟反标到片上系统的电路网表中，并进行仿真的过程。片上系统的制造进入更先进的工艺节点之后，后仿真更成为片上系统设计流程中不可缺少的一部分，在片上系统中时钟、复位和互联越来越复杂的情况下，利用带有时序的后仿真才能够发现潜在的约束问题和时序问题。而完成片上系统的后仿真，需要：

1)将标准延时文件中的延时数据反标到待验证设计的电路网表中；

2)将符合片上系统实际时序的激励信号施加到待验证设计上。

当片上系统的规模较小时，后仿真是以整个片上系统作为待验证设计的。片上系统的版图设计完成后，标准延时文件和片上系统的电路网表是对应的，片上系统的输入时序也由时序约束文件确定，因此，完全按照上述步骤1和步骤2即可完成片上系统的后仿真操作。

但是，随着半导体工艺特征尺寸的不断缩小，片上系统的规模越来越大，功能也日益复杂，片上系统验证的时间和资源开销也越来越大，因此，片上系统的验证流程也趋向于将验证环境建立在由多个功能相关模块构成的子系统上，验证人员通过并行的完成多个子系统的功能验证，从而达到验证整个芯片功能的目的。从验证角度来讲，将片上系统划分为多个子系统来验证，可以使得验证更加充分，同时，降低验证环境的复杂程度，缩减整个片上系统的验证时间，做到验证质量和验证时间之间的平衡。如图1所示，一个片上系统被划分为多个子系统，那么，验证环境便可以基于多个子系统来搭建，例如，一个片上系统被划分为第一子系统、第二子系统和第三子系统，那么，验证环境便可以基于第一子系统、第二子系统和第三子系统来搭建。基于此，片上系统的后仿真也可以基于子系统的验证环境来完成。由于针对待验证子系统中的某个目标模块，其激励信号通常是由片上系统中除待验证子系统以外的其他子系统来驱动的，因此，仅依靠与待验证子系统对应的芯片标准延时文件中包括的延时数据是无法确定目标模块的输入时序行为的。

基于以上描述，针对如何在片上系统的后仿真过程中施加符合实际时序的激励信号的问题，现有技术中，会人为给激励信号设置一定的延时，用于满足目标模块中第一级寄存器的时序采样和时序检查要求，有时还会根据后仿真和时序检查的结果来反复调整激励信号的延时，直至满足目标模块中第一级寄存器的时序采样和时序检查要求，也即，通过不断的仿真试错来调整激励信号的延时。这样的方法有以下缺点：

1)人为设定激励信号的延时，仅仅是为了满足目标模块中第一级寄存器的时序采样和时序检查要求而设置，并不能真实反映目标模块实际的时序情况，可能会掩盖一些时序约束或遗漏一些时序违例的错误；

2)通过不断仿真试错来调整激励信号的延时，一方面迭代时间长，另一方面待验证子系统的电路网表和标准延时文件出现变化时，需要重新迭代，如此，便会花费大量时间，进而影响后仿真效率。

发明内容

本申请的目的在于，提供一种片上系统后仿真方法、装置及电子设备，以解决上述问题。

第一方面，本申请提供的片上系统后仿真方法，包括：