[发明专利]一种芯片测试方法及装置

说明书

本发明公开了一种芯片测试方法及装置。所述芯片测试方法，包括：通过芯片自带的处理功能对待测样本进行处理，得到处理后的结果样本；将所述芯片中预设的预期结果样本和所述结果样本进行对比；根据对比的结果，分析出所述处理功能的测试结果。本发明在没有处理功能对应的引脚的情况下，快速便捷的测试该芯片自带的各个处理功能，并可根据测试结果直接定位出现故障的处理功能。

技术领域

本发明涉及芯片技术领域，特别涉及一种芯片测试方法及装置。

背景技术

芯片随着时代的发展，其应用领域和产品数量都成几何级的增长。而且越来越多的功能被直接集成在芯片中。芯片在设计、制造、封装或系统集成过程中，都可能发生各种各样的故障。对芯片自带功能的常规测试方式是通过芯片的引脚来进行的。但是芯片自带的处理功能在很多情况下并不存在相应的引脚来供检测设备来进行检测。如何妥善的解决上述问题，就成为了业界亟待解决的课题。

发明内容

本发明提供一种芯片测试方法及装置，在没有处理功能对应的引脚的情况下，快速便捷的测试该芯片自带的各个处理功能，并可根据测试结果直接定位出现故障的处理功能。

根据本发明实施例的第一方面，提供一种芯片测试方法，包括：

通过芯片自带的处理功能对待测样本进行处理，得到处理后的结果样本；

将所述芯片中预设的预期结果样本和所述结果样本进行对比；

根据对比的结果，分析出所述处理功能的测试结果。

在一个实施例中，在所述通过芯片自带的处理功能对待测样本进行处理，得到处理后的结果样本之前，包括：

根据接收到的测试指令，将所述芯片调整为自测试模式。

在一个实施例中，所述通过芯片自带的处理功能对待测样本进行处理，得到处理后的结果样本，包括：

在芯片中预设的待测样本库中，按照预设的选择顺序，选择出用于测试的待测样本；

对所述待测样本逐一使用芯片自带的处理功能进行处理，得到各个待测样本经过各种处理功能得到的结果样本，所述芯片自带的处理功能的数量大于等于一。

在一个实施例中，所述将所述芯片中预设的预期结果样本和所述结果样本进行对比，包括：

根据所述结果样本对应的待测样本和所述结果样本对应的处理功能，在芯片中预设的预期结果样本库中确定出相应的预期结果样本；

对所述预期结果样本和所述结果样本进行相似度对比，计算出相似度。

在一个实施例中，所述根据对比的结果，分析出所述处理功能的测试结果，包括：

若所述相似度大于预设的相似度阈值，确认所述处理功能的测试结果为合格；

若所述相似度小于等于预设的相似度阈值，确认所述处理功能的测试结果为故障。

在一个实施例中，还包括：

将所述处理的测试结果以多媒体的方式进行反馈，所述多媒体方式包括多种颜色的信号灯。

在一个实施例中，还包括：

所述待测样本包括图像样本，被测试的所述处理功能包括图像处理功能。

根据本发明实施例的第二方面，提供一种芯片测试装置，所述芯片缺乏处理模块的专用测试管脚，包括：

处理模块，用于通过芯片自带的图像处理功能，对所述芯片中预设的待测样本进行图像处理，得到处理后的结果样本；

处理模块，用于对所述芯片中预设的待测样本进行处理，得到处理后的结果样本；