[发明专利]一种矿物纯度检测方法有效
申请号: | 202011508520.5 | 申请日: | 2020-12-18 |
公开(公告)号: | CN112730476B | 公开(公告)日: | 2023-04-07 |
发明(设计)人: | 李伯平;郭冬发;何升;冯硕;李黎 | 申请(专利权)人: | 核工业北京地质研究院 |
主分类号: | G01N23/046 | 分类号: | G01N23/046;G01N1/28 |
代理公司: | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人: | 王爱涛 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 矿物 纯度 检测 方法 | ||
本发明涉及一种矿物纯度检测方法,该方法包括:在载玻片上粘贴双面胶;将矿物原料均匀散布在所述载玻片上粘有双面胶的一面;将所述载玻片置于X射线源与能量检测器之间;通过所述能量检测器获得所述X射线源发出的X射线经过矿物原料后的灰度图;根据所述灰度图确定所述矿物原料中预设成分的占比。本发明提高了检测速度。
技术领域
本发明涉及矿物检测技术领域,特别是涉及一种矿物纯度检测方法。
背景技术
在矿物加工领域,矿物原料的纯度直接影响到矿物加工工艺流程稳定性及硬件设备参数;另外在矿石原料贸易领域,矿石原料的纯度是重要的工业指标,直接影响交易的价格。
目前,对矿物原料纯度的检测方法通常有传统的湿法化学法和物理测量法。湿法化学法,例如酸溶和碱熔等。物理测量法,例如X-射线荧光法等。这些方法测量精度相对较高,但是主要有以下一些缺点:1、检测周期相对较长,尤其是化学测量法,往往需要冗长的化学前处理流程,2、X-射线荧光法分析速度相对较快,但是方法对标准物质要求较高,需要参考物质与样品具有相近或一致的基体组成。
发明内容
基于此,本发明的目的是提供一种矿物纯度检测方法,以提高检测速度。
为实现上述目的,本发明提供了如下方案:
一种矿物纯度检测方法,所述方法包括:
在载玻片上粘贴双面胶;
将矿物原料均匀散布在所述载玻片上粘有双面胶的一面;
将所述载玻片置于X射线源与能量检测器之间;
通过所述能量检测器获得所述X射线源发出的X射线经过矿物原料后的灰度图;
根据所述灰度图确定所述矿物原料中预设成分的占比。
可选地,所述根据所述灰度图确定所述矿物原料中预设成分的占比,具体包括:
确定所述矿物原料中各成分对应的灰度值区间;
根据各成分对应的灰度值区间确定各成分在所述灰度图中所占面积;
根据各成分所占面积确定预设成分的占比。
可选地,所述根据各成分对应的灰度值区间确定各成分在所述灰度图中所占面积,具体包括:
根据各成分对应的灰度值区间,采用归一法确定各成分在所述灰度图中所占面积。
可选地,所述将矿物原料均匀散布在所述载玻片上粘有双面胶的一面,具体包括:
将矿物原料颗粒均匀散布在所述载玻片上粘有双面胶的一面;
抖落未粘牢的矿物原料颗粒。
可选地,所述矿物原料颗粒粘在所述载玻片上的面积大于或等于2cm2。
可选地,所述通过所述能量检测器获得所述X射线源发出的X射线经过矿物原料后的灰度图之前,所述方法还包括:
打开所述X射线源,设置所述X射线源的工作参数,所述工作参数包括电压、电流和曝光时间。
可选地,所述能量检测器为平板检测器。
可选地,所述平板检测器为16位A/D转换的平板检测器。
根据本发明提供的具体实施例,本发明公开了以下技术效果:
本发明公开了一种矿物纯度检测方法,通过能量检测器获得X射线源发出的X射线经过矿物原料后的灰度图,通过对不同的灰度区间进行统计,即可检测矿石原料的纯度,提高了检测速度。
附图说明
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于核工业北京地质研究院,未经核工业北京地质研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202011508520.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种多电源系统及其运行方法
- 下一篇:一种轻质保温装饰一体板