[发明专利]芯片及其开发工具的测试系统、测试方法及装置

说明书

本发明公开了一种芯片及其开发工具的测试系统、测试方法及装置。该系统包括：功能配置模块，用于配置待测对象的配置信息，配置信息至少包括：测试用例类型，待测对象为芯片或芯片的开发工具；用例筛选模块，用于根据测试用例类型筛选与待测对象对应的测试用例；流程处理模块，用于生成测试流程信息，测试流程信息至少包括测试流程和测试流程属性，测试流程属性用于表示是否执行测试流程中的任意一个主流程或任意一个子流程；自动化检测模块，用于使用筛选的测试用例按照测试流程对待测对象进行测试，根据测试流程属性对待测对象进行自动化测试。本发明解决了现有技术中对于FPGA芯片及其开发工具的测试效率较低的技术问题。

技术领域

本发明涉及FPGA检测技术领域，具体而言，涉及一种芯片及其开发工具的测试系统、测试方法及装置。

背景技术

FPGA(Field-Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)是在PAL、GAL、CPLD等可编程器件基础上进一步发展的产物，其因具有集成度高、逻辑资源丰富以及可重配置等特点而得到广泛应用。

随着FPGA应用越来越广泛，用户对FPGA开发工具的功能要求越来越高，在FPGA开发工具更新(包括软件更新或新增FPGA器件)时，需要保证已有功能的兼容性以及新软件功能和新器件功能的正确，则对FPGA资源进行板级验证来检测软件和器件功能的正确性，目前FPGA开发工具的功能测试依靠人工完成，导致需要耗费大量的人力和时间资源，测试效率较低；如果对FPGA开发工具的功能测试仅做随机检测，可能会出现漏洞，检测结果不可靠。

针对上述解决了现有技术中对于FPGA芯片及其开发工具的测试效率较低的技术问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明实施例提供了一种芯片及其开发工具的测试系统、测试方法及装置，以至少解决现有技术中对于FPGA芯片及其开发工具的测试效率较低的技术问题。

根据本发明实施例的一个方面，提供了一种芯片及其开发工具的测试系统，包括：功能配置模块，用于配置待测对象的配置信息，其中，配置信息至少包括：测试用例类型，待测对象为芯片或芯片的开发工具；用例筛选模块，用于根据测试用例类型筛选与待测对象对应的测试用例；流程处理模块，用于生成测试流程信息，其中，测试流程信息至少包括测试流程和测试流程属性，测试流程包括至少一个主流程和主流程对应的子流程，测试流程属性用于表示是否执行测试流程中的任意一个主流程或任意一个子流程；自动化检测模块，用于使用筛选的测试用例按照测试流程对待测对象进行测试，根据测试流程属性对待测对象进行自动化测试。

进一步地，用例筛选模块包括用例器件映射表和约束器件映射表，其中，用例器件映射表用于记录器件与测试用例的支持关系，约束器件映射表用于记录器件与约束位置的关系；用例筛选模块还用于对待测对象不支持的测试用例进行标记，在测试用例筛选时将标记的测试用例筛除，并对有约束文件且测试流程需要约束文件的测试用例在进行测试用例筛选时，根据约束器件映射表修改约束文件中的约束位置。

进一步地，自动化检测模块还用于对筛选出的多个测试用例执行测试流程，并生成对应的测试结果，其中，当任意一个测试流程的测试结果为测试错误，则禁止执行后续的测试流程。

进一步地，上述系统还包括：检测报告生成模块，检测报告生成模块用于将测试结果转换为预设格式，其中，测试结果包括如下至少一项：测试用例总数量、错误测试用例数量、错误流程以及错误测试用例放置路径。

进一步地，上述功能配置模块还用于进行资源配置、器件配置和错误测试用例处理方式配置，其中，资源配置包括串行资源配置和并行资源配置，器件配置包括串行器件配置和并行器件配置，错误测试用例处理方式配置包括保留错误测试用例和删除错误测试用例。

进一步地，上述自动化检测模块还用于根据资源配置并行或串行的使用筛选的测试用例进入测试流程，并根据器件配置并行或串行的对多个待测对象基于测试流程属性进行自动化测试。