[发明专利]用于创建PCB测试点标识的方法、系统及可读存储介质

权利要求书

1.一种用于创建PCB测试点标识的方法，其特征在于，包括：

获取PCB零件；

获取所述PCB零件中的压接件零件；

获取压接件零件的引脚，并从所述引脚中筛选出带有测试点的引脚；

获取所述带有测试点的引脚对应的焊盘；

获取所述带有测试点的引脚坐标，以及所述焊盘的几何参数；

根据所述带有测试点的引脚坐标以及所述焊盘的几何参数，计算预设图形标识顶点坐标；

根据所述预设图形标识顶点坐标，在PCB板上绘制预设图形标识。

2.根据权利要求1所述的用于创建PCB测试点标识的方法，其特征在于，在获取所述PCB零件之前，所述方法还包括：

设置过滤器为symbol模式。

3.根据权利要求1所述的用于创建PCB测试点标识的方法，其特征在于，在获取所述PCB零件之后，所述方法还包括：

将所述PCB零件存入第一数列中；

所述获取所述PCB零件中的压接件零件，包括：

遍历所述第一数列，获取所述压接件零件，并将所述压接件零件存入第二数列中；

所述获取压接件零件的引脚，并从所述引脚中筛选出带有测试点的引脚，包括：

遍历所述第二数列，获取所述压接件零件的引脚，并将所述压接件零件的引脚存入第三数列中；

遍历所述第三数列，筛选所述带有测试点的引脚，并将所述带有测试点的引脚存入第四数列中；

所述获取所述带有测试点的引脚坐标，包括：

遍历所述第四数列，获取所述带有测试点的引脚坐标。

4.根据权利要求1所述的用于创建PCB测试点标识的方法，其特征在于，所述几何参数包含有所述焊盘的宽度和高度，且所述宽度与所述高度相等。

5.根据权利要求1所述的用于创建PCB测试点标识的方法，其特征在于，所述根据所述预设图形标识顶点坐标，在PCB板上绘制预设图形标识，包括：

根据所述预设图形标识顶点坐标，在所述PCB板的丝印层绘制预设图形标识，所述预设图形标识为正多边形。

6.一种用于创建PCB测试点标识的系统，其特征在于，包括：

零件获取模块，用于获取PCB零件；

压接件获取模块，用于获取所述PCB零件中的压接件零件；

引脚获取模块，用于获取压接件零件的引脚，并从所述引脚中筛选出带有测试点的引脚；

焊盘获取模块，用于获取所述带有测试点的引脚对应的焊盘；

数据获取模块，用于获取所述带有测试点的引脚坐标，以及所述焊盘的几何参数；

顶点计算模块，用于根据所述带有测试点的引脚坐标以及所述焊盘的几何参数，计算预设图形标识顶点坐标；

标识绘制模块，用于根据所述预设图形标识顶点坐标，在PCB板上绘制预设图形标识。

7.根据权利要求6所述的用于创建PCB测试点标识的系统，其特征在于，还包括：

模式设置模块，用于设置过滤器为symbol模式。

8.根据权利要求6所述的用于创建PCB测试点标识的系统，其特征在于，

所述零件获取模块，还用于将所述PCB零件存入第一数列中；

所述压接件获取模块，还用于遍历所述第一数列，获取所述压接件零件，并将所述压接件零件存入第二数列中；

所述引脚获取模块，还用于遍历所述第二数列，获取所述压接件零件的引脚，并将所述压接件零件的引脚存入第三数列中，以及遍历所述第三数列，筛选所述带有测试点的引脚，并将所述带有测试点的引脚存入第四数列中；

所述数据获取模块，还用于遍历所述第四数列，获取所述带有测试点的引脚坐标；

所述标识绘制模块，进一步用于根据所述预设图形标识顶点坐标，在所述PCB板的丝印层绘制预设图形标识，所述预设图形标识为正多边形。

9.根据权利要求6所述的用于创建PCB测试点标识的系统，其特征在于，所述几何参数包含有所述焊盘的宽度和高度，且所述宽度与所述高度相等。

10.一种可读存储介质，其特征在于，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被执行时，用于执行权利要求1～5任一项所述的方法。