[发明专利]集成电路设计的验证方法、验证装置以及存储介质

权利要求书

1.一种集成电路设计的验证方法，包括：

根据使用测试用例组对所述集成电路设计进行仿真得到的功能覆盖率报告确定所述测试用例组中的重复测试用例，

其中，所述集成电路设计的预期功能对应多个功能覆盖单元，所述测试用例组包括多个测试用例，所述多个测试用例的每个覆盖所述多个功能覆盖单元中的至少一个，所述重复测试用例所覆盖的功能覆盖单元被其它测试用例完全覆盖。

2.如权利要求1所述的验证方法，还包括：将所述重复测试用例从所述测试用例组中移除以对所述测试用例组进行优化。

3.如权利要求2所述的验证方法，还包括：将优化后的测试用例组用于对所述集成电路设计进行仿真。

4.如权利要求1所述的验证方法，其中，所述功能覆盖单元为所述集成电路设计的预期功能的最小功能覆盖单元。

5.如权利要求1所述的验证方法，其中，根据使用测试用例组对所述集成电路设计进行仿真得到的功能覆盖率报告确定所述测试用例组中的重复测试用例包括：

从所述功能覆盖率报告中提取所述多个测试用例中每个所覆盖的功能覆盖单元信息，以及

对所述多个功能覆盖单元中被多个测试用例所覆盖的功能覆盖单元进行标记。

6.如权利要求1所述的验证方法，还包括：

根据所述功能覆盖率报告确定所述集成电路设计的预期功能对应的多个功能覆盖单元是否被所述测试用例组完全覆盖。

7.如权利要求6所述的验证方法，还包括：

当所述集成电路设计的预期功能对应的多个功能覆盖单元未被所述测试用例组完全覆盖，向所述测试用例组中添加新的测试用例以对所述集成电路设计进行仿真。

8.如权利要求1所述的验证方法，其中，在所述仿真中使用所述测试用例组触发所述集成电路设计产生至少一个功能行为，将所述至少一个功能行为与所述集成电路设计的预期功能进行对比以生成所述功能覆盖率报告，所述功能覆盖率报告显示出所述集成电路设计的预期功能所对应的功能覆盖单元被所述测试用例组覆盖的情况。

9.如权利要求1-8任一所述的验证方法，其中，所述集成电路设计使用硬件编程语言实现。

10.一种集成电路设计的验证装置，包括：

处理器，以及

存储器，其中，所述存储器中存储有计算机可执行代码，当所述计算机可执行代码被执行时，执行权利要求1-9任一所述的验证方法。

11.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机可执行代码，所述计算机可执行代码在被执行时，执行权利要求1-9任一所述的验证方法。

12.一种集成电路设计的验证装置，包括：

重复测试用例确定单元，配置为根据使用测试用例组对所述集成电路设计进行仿真得到的功能覆盖率报告确定所述测试用例组中的重复测试用例，

其中，所述集成电路设计的预期功能对应多个功能覆盖单元，所述测试用例组包括多个测试用例，所述多个测试用例的每个覆盖所述多个功能覆盖单元中的至少一个，所述重复测试用例所覆盖的功能覆盖单元被其它测试用例完全覆盖。