[发明专利]一种运算性能测试方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本发明实施例提供了一种运算性能测试方法、装置、电子设备及存储介质，通过生成随机数，对所生成的随机数进行判断，如果所生成的随机数为合数，则对该随机数进行分解处理，统计预设时长内完成分解处理的合数数量，基于该合数数量，确定运算性能测试结果。整数主要分为合数和质数，任何一个合数都可以被分解为多个质数的乘积，经过对随机生成的合数进行分解处理，并统计预设时长内完成分解处理的合数数量，能够测试出电子设备对合数进行分解处理的能力，即一段时长内能够对多少个合数完成分解处理，从而实现了对电子设备在整数运算方面的性能测试。

技术领域

本发明涉及计算机应用技术领域，特别是涉及一种运算性能测试方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

随着科技的发展，手机、笔记本电脑、平板电脑等电子设备的功能日益强大。目前，各种应用软件的不断涌现，众多的程序、服务都对电子设备的运算性能提出了更高的要求。电子设备的运算性能越强，电子设备运行应用软件的速度就越快。

目前，为了让用户更好的了解电子设备的运算性能，技术人员开发出了测评软件(也称为“跑分”软件)。这种测评软件在电子设备上运行时，可以通过一定的测试方法对电子设备的运算性能进行测试，并将测试结果告知用户，从而帮助用户了解电子设备的运算性能。

当前的运算性能测试方法是对电子设备运行应用软件的性能进行测试，输出的是电子设备运行应用软件的性能测试结果，然而，电子设备在实际应用中，更主要的是进行数学运算，当前的运算性能测试方法无法衡量电子设备在数学运算，尤其是在整数运算方面的性能。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种运算性能测试方法、装置、电子设备及存储介质，以实现对电子设备在整数运算方面的性能测试。具体技术方案如下：

第一方面，本发明实施例提供了一种运算性能测试方法，该方法包括：

生成随机数；

若所生成的随机数为合数，则对该随机数进行分解处理；

统计预设时长内完成分解处理的合数数量；

基于合数数量，确定运算性能测试结果。

可选的，生成随机数的步骤，包括：

获取处理器性能参数；

根据处理器性能参数，确定随机种子及随机范围；

基于随机种子，生成随机数；

若所生成的随机数在随机范围内，则保留所生成的随机数。

可选的，对该随机数进行分解处理的步骤，包括：

以该随机数为搜索上限，遍历2至搜索上限之间的所有质数，如果当前质数可整除搜索上限，则确定当前质数为质数因子；

将搜索上限除以当前质数的商值设置为更新的搜索上限，重新从2开始搜索质数因子，直至更新的搜索上限为1。

可选的，在生成随机数的步骤之前，该方法还包括：

在接收到测试开始指令时，启动计时器，并将计数器清零；

统计预设时长内完成分解处理的合数数量的步骤，包括：

在完成分解处理后，将计数器的数值累加1；

若计时器的计时时长未达到预设时长，则返回执行生成随机数的步骤；

若计时器的计时时长达到预设时长，则从计数器中读取出预设时长内完成分解处理的合数数量。

可选的，基于合数数量，确定运算性能测试结果的步骤，包括：

根据合数数量及预设时长，计算平均分解速度；