[发明专利]一种运算性能测试方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种运算性能测试方法，其特征在于，所述方法包括：

生成随机整数；

判定所生成的随机整数是否为质数；

统计预设时长内判定为质数的随机整数总数量；

基于所述总数量，确定运算性能测试结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述生成随机整数的步骤，包括：

获取处理器性能参数；

根据所述处理器性能参数，设置随机种子值及随机范围；

基于所述随机种子值，生成随机整数；

若所生成的随机整数在所述随机范围内，则保留所生成的随机整数。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述判定所生成的随机整数是否为质数的步骤，包括：

遍历从2到目标整数之间的所有自然数，如果没有任何一个自然数可整除所生成的随机整数，则确定该随机整数为质数，其中，所述目标整数为所生成的随机整数减1，或者，所述目标整数为所生成的随机整数的平方根。

4.根据权利要求1或3所述的方法，其特征在于，在所述生成随机整数的步骤之前，所述方法还包括：

在接收到测试开始指令时，启动计时器，并将计数器清零；

所述统计预设时长内判定为质数的随机整数总数量的步骤，包括：

在判定所生成的随机整数为质数后，将所述计数器的数值累加1；

若所述计时器的计时时长未达到预设时长，则返回执行所述生成随机整数的步骤，其中，所述预设时长基于处理器性能参数预先设定；

若所述计时器的计时时长达到所述预设时长，则从所述计数器中读取出所述预设时长内判定为质数的随机整数总数量。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述总数量，确定运算性能测试结果的步骤，包括：

根据所述总数量及所述预设时长，计算平均判定速度；

基于所述平均判定速度，确定运算性能测试结果，其中，所述运算性能测试结果为测试评分，所述测试评分与所述平均判定速度成正比关系。

6.根据权利要求1或5所述的方法，其特征在于，在所述基于所述总数量，确定运算性能测试结果的步骤之后，所述方法还包括：

将所述运算性能测试结果输出至测试界面。

7.一种运算性能测试装置，其特征在于，所述装置包括：

生成模块，用于生成随机整数；

判定模块，用于判定所生成的随机整数是否为质数；

统计模块，用于统计预设时长内判定为质数的随机整数总数量；

确定模块，用于基于所述总数量，确定运算性能测试结果。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述生成模块，具体用于获取处理器性能参数；根据所述处理器性能参数，设置随机种子值及随机范围；基于所述随机种子值，生成随机整数；若所生成的随机整数在所述随机范围内，则保留所生成的随机整数。

9.一种电子设备，其特征在于，包括处理器和存储器，其中，所述存储器，用于存放计算机程序；所述处理器，用于执行所述存储器上所存放的计算机程序时，实现权利要求1-6中任一项所述的方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质内存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-6中任一项所述的方法。