[发明专利]一种基于视觉与深度学习的芯片管壳检测装置有效

专利信息
申请号: 202011519959.8 申请日: 2020-12-21
公开(公告)号: CN112691938B 公开(公告)日: 2022-12-20
发明(设计)人: 谢天;孙海峰;王卫军;王兆广;张允 申请(专利权)人: 上海微电机研究所(中国电子科技集团公司第二十一研究所)
主分类号: B07C5/34 分类号: B07C5/34;B07C5/02;B07C5/38
代理公司: 北京五洲洋和知识产权代理事务所(普通合伙) 11387 代理人: 刘春成
地址: 200233*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 基于 视觉 深度 学习 芯片 管壳 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种基于视觉与深度学习的芯片管壳缺陷检测装置,其特征在于,包括:

管壳上下料系统,用于将来料上料区的待检测芯片管壳移动至管壳检测区域,以及将缺陷检测完毕的芯片管壳移动至下料区;

管壳缺陷视觉系统,基于CCD视觉检测技术对所述管壳检测区域的待检测芯片管壳进行图像采集并发送;

管壳缺陷信息化控制系统,与所述管壳缺陷视觉系统通讯连接,接收所述管壳缺陷视觉系统发送的所述待检测芯片管壳的图像,并根据所述待检测芯片管壳的图像,对所述待检测芯片管壳的外观缺陷进行检测;

所述管壳上下料系统包括:定位机构与六轴机械臂,所述定位机构包括挡板和定位相机;所述挡板设置于预定位置处,使放置有所述待检测芯片管壳的料盘在所述预定位置停止后,所述定位相机对所述料盘中的待检测芯片管壳进行拍照,并通过图像识别技术确定所述待检测芯片管壳在料盘中的实际位置;

所述六轴机械臂根据所述定位机构对所述待检测芯片管壳的定位,吸取所述料盘中的待检测芯片管壳,以将所述待检测芯片管壳移动至所述管壳检测区域,并带动六轴机械臂上吸嘴吸取的待检测芯片管壳姿态变化;

所述六轴机械臂包括第一六轴机械臂与第二六轴机械臂,在所述第一六轴机械臂和所述第二六轴机械臂之间设置有第一中转站和第二中转站,所述管壳检测区域包括第一管壳检测区域与第二管壳检测区域,所述第一六轴机械臂吸取所述待检测芯片管壳的其中一个面,使所述待检测芯片管壳在第一管壳检测区域处进行图像采集,将所述待检测芯片管壳放到所述第一中转站或所述第二中转站;所述第二六轴机械臂吸取所述待检测芯片管壳已经完成图像采集的一个面,所述待检测芯片管壳在所述第二管壳检测区域处对未进行图像采集的面进行图像采集。

2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述管壳上下料系统还包括:

拆盘机构,用于将所述来料上料区中堆叠的料盘逐个拆分,其中,所述料盘中放置有所述待检测芯片管壳;

传送带,将所述拆盘机构拆分出的料盘输送至所述预定位置,由所述定位机构对所述预定位置处所述料盘中的待检测芯片管壳进行定位;

堆盘机构,将所述六轴机械臂吸取所述待检测芯片管壳后余下的、由所述传送带输送的空料盘进行堆叠。

3.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述下料区包括:不合格品下料区,

对应的,所述管壳缺陷视觉系统包括:

CCD检测设备,与所述管壳缺陷信息化控制系统通讯连接,对所述管壳检测区域的待检测芯片管壳进行图像采集并发送至所述管壳缺陷信息化控制系统;

不合格品收料设备,与所述管壳缺陷信息化控制系统通讯连接,响应于所述管壳缺陷信息化控制系统根据所述CCD检测设备发送的所述待检测芯片管壳的图像,检测到所述待检测芯片管壳存在缺陷,所述不合格品收料设备将所述管壳检测区域对应的所述待检测芯片管壳移动至所述不合格品下料区。

4.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,所述CCD检测设备基于所述管壳检测区域上待检测芯片管壳的姿态变化,对所述待检测芯片管壳在不同姿态下进行图像采集。

5.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,所述管壳缺陷视觉系统还包括:吸嘴快换站,所述吸嘴快换站放置有多个不同的吸嘴,以适应不同尺寸的待检测芯片管壳,其中,所述吸嘴能够安装于所述六轴机械臂的执行末端,以使所述六轴机械臂通过所述吸嘴吸取所述待检测芯片管壳。

6.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述管壳缺陷信息化控制系统包括:

识别模块,与所述管壳缺陷视觉系统通讯连接,接收所述管壳缺陷视觉系统发送的所述待检测芯片管壳的图像,并根据所述待检测芯片管壳的图像,对所述待检测芯片管壳的图像中的缺陷特征进行识别;

判断模块,与所述识别模块通讯连接,根据所述识别模块对所述待检测芯片管壳的图像中的缺陷特征的识别结果,确定所述待检测芯片管壳是否存在外观缺陷。

7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述识别模块基于预先构建的识别模型,根据所述待检测芯片管壳的图像,对所述待检测芯片管壳的图像中的缺陷特征进行识别。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海微电机研究所(中国电子科技集团公司第二十一研究所),未经上海微电机研究所(中国电子科技集团公司第二十一研究所)许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202011519959.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top