[发明专利]一种道路纵断面高程测量方法、介质及系统在审

专利信息
申请号: 202011522423.1 申请日: 2020-12-21
公开(公告)号: CN112629487A 公开(公告)日: 2021-04-09
发明(设计)人: 常成利;武玉钊;杨亚鹏;巩建;孙丙阳;陈志辉;郄胜凯 申请(专利权)人: 中公高科养护科技股份有限公司
主分类号: G01C5/00 分类号: G01C5/00;G01C7/00;G01D21/02
代理公司: 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 代理人: 莎日娜
地址: 100095 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 道路 纵断面 高程 测量方法 介质 系统
【权利要求书】:

1.一种道路纵断面高程测量方法,其特征在于,包括:

在道路检测车的基准面上设置第一激光测距传感器、第二激光测距传感器和惯性测量仪,其中,所述第一激光测距传感器和所述第二激光测距传感器相距预设距离,所述第一激光测距传感器和所述第二激光测距传感器沿所述道路检测车的长度方向排列,所述第一激光测距传感器比所述第二激光测距传感器靠近所述道路检测车的车头,所述第一激光测距传感器和所述第二激光测距传感器的激光束方向垂直于所述基准面,所述基准面垂直于所述道路检测车的高度方向,所述惯性测量仪的三个测量轴分别与所述激光束方向、所述道路检测车的长度方向和所述道路检测车的宽度方向平行;

当所述道路检测车在待测道路上行驶时,从起点开始每行驶所述预设距离,通过所述第一激光测距传感器和所述第二激光测距传感器向所述待测道路的路面发射激光束,测量所述基准面与所述待测道路的路面的第一距离和第二距离,以及,通过所述惯性测量仪测量所述基准面的俯仰角,其中,所述第一距离为所述基准面与所述第一激光测距传感器对应的所述待测道路的路面的测量点的距离,所述第二距离为所述基准面与所述第二激光测距传感器对应的所述待测道路的路面的测量点的距离;

计算每次测量所述第一激光测距传感器和所述第二激光测距传感器对应的所述待测道路的路面的测量点之间的高程差,其中,所述高程差的计算式为:ΔHk=D×sinαk-(L1,k-L2,k)×cosαk,ΔHk表示该次测量的高程差,D表示所述预设距离,L1,k表示该次测量对应的所述第一距离,L2,k表示该次测量对应的所述第二距离,αk表示该次测量对应的所述基准面的俯仰角;

计算每次测量所述第一激光测距传感器对应的测量点的道路纵断面高程,其中,所述道路纵断面高程的计算式为:Hk+1=Hk+ΔHk,Hk+1表示该次测量所述第一激光测距传感器对应的测量点的道路纵断面高程,Hk表示前一次测量所述第一激光测距传感器对应的测量点的道路纵断面高程,k=0,1,2,……,H1表示起点的道路纵断面高程。

2.根据权利要求1所述的道路纵断面高程测量方法,其特征在于:所述道路检测车在待测道路上行驶时,所述道路检测车沿道路纵断面测线行驶。

3.根据权利要求1所述的道路纵断面高程测量方法,其特征在于:当所述基准面为水平面时,所述基准面的俯仰角为0;当所述基准面的靠近所述道路检测车的前进方向的一端比远离所述道路检测车的前进方向的一端高时,所述基准面的俯仰角大于0;当所述基准面的靠近所述道路检测车的前进方向的一端比远离所述道路检测车的前进方向的一端低时,所述基准面的俯仰角小于0。

4.根据权利要求1所述的道路纵断面高程测量方法,其特征在于:所述起点的道路纵断面高程设为0。

5.根据权利要求1所述的道路纵断面高程测量方法,其特征在于:所述第一激光测距传感器对应的所述待测道路的路面的测量点为所述第一激光测距传感器发射的激光束与所述待测道路的路面的交点,所述第二激光测距传感器对应的所述待测道路的路面的测量点为所述第二激光测距传感器发射的激光束与所述待测道路的路面的交点。

6.一种计算机可读存储介质,其特征在于:所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序指令;所述计算机程序指令被处理器执行时实现如权利要求1~5任一项所述的道路纵断面高程测量方法。

7.一种道路纵断面高程测量系统,其特征在于,包括:如权利要求6所述的计算机可读存储介质。

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