[发明专利]一种磁路测试装置在审
申请号: | 202011523603.1 | 申请日: | 2020-12-22 |
公开(公告)号: | CN112763950A | 公开(公告)日: | 2021-05-07 |
发明(设计)人: | 任书策;石坚 | 申请(专利权)人: | 扬州京柏自动化科技有限公司 |
主分类号: | G01R33/12 | 分类号: | G01R33/12 |
代理公司: | 苏州佳捷天诚知识产权代理事务所(普通合伙) 32516 | 代理人: | 李阳 |
地址: | 225000 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 磁路 测试 装置 | ||
本发明涉及一种磁路测试装置,属于磁路测试技术领域,包括支架,其特征在于,所述支架上设有载具调节机构、载具监测机构和连杆测试机构;所述载具调节机构包括升降组件,所述升降组件上可升降的设有二维调节组件,所述二维调节组件上设有用于放置待测试产品的载具平台,所述载具平台能够在所述二维调节组件的控制下调整平面位置;所述载具监测机构设置于所述升降组件一侧,用于监测是否放置待测试产品;所述连杆测试机构包括动力马达和与所述动力马达传动连接的测试连杆,所述测试连杆位于所述升降组件上方且能够在所述动力马达的驱动下前后运动。本发明结构简单,便于操作,能够提高测试效率和节省人力。
技术领域
本发明涉及磁路测试技术领域,特别是涉及一种磁路测试装置。
背景技术
在当前实际生产过程中,需要对产品进行磁路测试,以确保获取满足要求的磁路性能的合格产品。现有技术中,传统的测试设备往往存在产品测试过程中平面位置不精确或难以调整,以及测试过程比较繁琐等问题,导致测试效率相对低下和成本偏高。
发明内容
基于此,有必要针对测试效率低下的技术问题,本发明提供一种磁路测试装置。
一种磁路测试装置,包括支架,所述支架上设有载具调节机构、载具监测机构和连杆测试机构;
所述载具调节机构包括升降组件,所述升降组件上可升降的设有二维调节组件,所述二维调节组件上设有用于放置待测试产品的载具平台;所述载具平台能够在所述升降组件的控制下升至或离开待测试位置,并能够在所述二维调节组件的控制下调整平面位置;
所述载具监测机构设置于所述升降组件一侧,用于检测待测试位置是否放置待测试产品;
所述连杆测试机构包括动力马达和与所述动力马达传动连接的测试连杆,所述测试连杆位于所述升降组件上方且能够在所述动力马达的驱动下前后运动。
进一步的,所述升降组件包括分别固定设置于所述支架上的竖向导轨和气缸,所述气缸与所述二维调节组件传动连接,所述二维调节组件通过滑动底座可滑动地设置于所述竖向导轨上。
进一步的,所述动力马达上设有同步轮,所述同步轮通过同步带与传动轮连接,所述传动轮通过传动杆与所述测试连杆传动连接。
进一步的,所述二维调节组件包括上下依次设置的第一调节平台和第二调节平台;
所述第二调节平台包括固定设置于所述滑动底座上的第二底座,所述第二底座上设有第二导槽,所述导槽上可滑动的设有第二调节块;
所述第一调节平台包括固定设置于所述第二调节块顶部上的第一底座,所述第一底座上设有与所述第二导槽方向相垂直的第一导槽,所述第一导槽上可滑动的设有第一调节块。
进一步的,所述第一调节块上还设有第一推拉杆,所述第一推拉杆穿过所述第一底座上的第一支撑座沿所述第一导槽方向设置;
所述第二调节块上还设有第二推拉杆,所述第二推拉杆穿过所述第二底座上的第二支撑座沿所述第二导槽方向设置。
进一步的,还包括底板,所述支架固定设置于所述底板上。
进一步的,所述底板上还设有用于供电的配电机箱。
进一步的,所述底板上还设有用于控制装置启停的双启动按钮。
进一步的,所述载具监测机构为光电探测器。
进一步的,所述底板和支架为一体成型结构。
与现有技术相比,本发明具有以下有益效果:
本发明的实施例提供的磁路测试装置能够通过二维调节组件进行平面位置调整,提高了位置精确度;
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