[发明专利]快速自动测试发光二极管显示屏刷新频率的方法及系统

权利要求书

1.一种快速自动测试发光二极管显示屏刷新频率的系统，其特征在于，包括光纤探测器(2)、CCD探测器(3)、探测器支架(4)、光纤(5)、信号采集放大装置(6)和安装有MATLAB软件的计算机(7)，所述信号采集放大装置(6)包括光电倍增管和滤波、放大处理电路；

所述光纤探测器(2)和所述CCD探测器(3)安装在所述探测器支架(4)上，所述光纤探测器(2)的前端设有显微成像系统，所述显微成像系统的内部具有半反半透镜，待测发光二极管显示屏(1)上单个像素发射的光经过所述半反半透镜后被分为两束，一束光入射至所述所述CCD探测器(3)，所述CCD探测器(3)与所述计算机(7)连接，在所述计算机(7)上显示所述像素的图像，另一束光经过所述光纤(5)入射至所述光电倍增管，所述光电倍增管输出的电信号经过所述滤波、放大处理电路处理后传入所述计算机(7)内的高速数据采集卡，所述高速数据采集卡将电信号转换为数字信号，所述MATLAB软件读取所述数字信号，并利用预先设计好的simulink模块对所述数字信号进行滤波处理，得到滤波后的数据，所述MATLAB软件根据滤波后的数据绘制刷新频率曲线，并根据所述刷新频率曲线的波形周期计算出所述待测发光二极管显示屏(1)的刷新频率数值。

2.根据权利要求1所述的一种快速自动测试发光二极管显示屏刷新频率的系统，其特征在于，所述simulink模块包括FIR数字低通滤波器(8)、第一示波器(9)和第二示波器(10)；

所述高速数据采集卡采集的所述数字信号输入至所述FIR数字低通滤波器(8)，所述第一示波器(9)用于监测所述FIR数字低通滤波器(8)的输入信号(11)，所述第二示波器(10)用于监控所述FIR数字低通滤波器(8)的输出信号(12)。

3.根据权利要求1或2所述的一种快速自动测试发光二极管显示屏刷新频率的系统，其特征在于，在MATLAB软件中通过以下步骤设计所述simulink模块：

步骤一：设计FIR数字低通滤波器(8)

在MATLAB命令界面输入“fdatool”打开滤波器设计界面，“响应类型”中选择滤波器的类型为低通，“设计方法”中选择是“FIR”，在后面的下拉框中选择设计的具体方法为“windows”窗函数法，属性中选择“hamming”，“滤波器阶次”中可以选择或写入需要设计滤波器的阶次，“频响特性”中输入滤波器的具体参数；

步骤二：将设计好的FIR数字低通滤波器(8)转换成simulink模块的形式。

4.根据权利要求3所述的一种快速自动测试发光二极管显示屏刷新频率的系统，其特征在于，

所述FIR数字低通滤波器(8)的阶次N为10，所述FIR数字低通滤波器(8)的具体参数包括采样频率和截止频率，所述采样频率fs为50000，所述截止频率fc为20。

5.根据权利要求1或2所述的一种快速自动测试发光二极管显示屏刷新频率的系统，其特征在于，

所述高速数据采集卡的数据采样分辨率为5微秒。

6.根据权利要求1或2所述的一种快速自动测试发光二极管显示屏刷新频率的系统，其特征在于，

在所述MATLAB软件根据滤波后的数据绘制刷新频率曲线时，先对所述FIR数字低通滤波器(8)的延迟时间T_delay进行补偿，延迟时间T_delay的计算公式如下：

其中，N为所述FIR数字低通滤波器(8)的阶次，ω为所述FIR数字低通滤波器(8)的输入信号的频率。

7.一种快速自动测试发光二极管显示屏刷新频率的方法，其特征在于，采用如权利要求1至6任意一项所述的系统测试发光二极管显示屏的刷新频率，所述方法包括以下步骤：

步骤一：将待测发光二极管显示屏(1)放置在光纤探测器(2)的前方；

步骤二：设置所述待测发光二极管显示屏(1)的亮度为最高，并调入刷新频率测试画面；

步骤三：通过计算机(7)上显示的图像观察待测点的位置，调整探测器支架(4)，找到测试像素位置；

步骤四：位置调整好后开始测试，运行计算机(7)上的MATLAB软件，所述MATLAB软件被配置为：读取高速数据采集卡输出的数字信号，并利用预先设计好的simulink模块对所述数字信号进行滤波处理，得到滤波后的数据，以及根据滤波后的数据绘制刷新频率曲线，并根据所述刷新频率曲线的波形周期计算出所述待测发光二极管显示屏(1)的刷新频率数值。