[发明专利]图像瑕疵检测方法、装置、电子设备及介质

说明书

本申请涉及图像分析技术，本申请提供一种图像瑕疵检测方法、装置、电子设备及介质。该方法能够从图像瑕疵检测请求中提取待检测图像，将待检测图像转换为多个不同预设尺寸的尺寸图像，利用预先构建的编码器对多个尺寸图像进行特征提取，得到多个潜向量，将多个潜向量输入至与编码器对应的解码器中，得到多个重构图像，及将多个潜向量输入至预先训练的高斯混合模型中，得到每个尺寸图像对应的估测概率，将每个重构图像与每个尺寸图像进行比较，得到每个尺寸图像的计算误差，根据每个估测概率及每个计算误差确定每个尺寸图像的总误差，并根据每个总误差及与每个总误差对应的预设阈值确定待检测图像的检测结果，提高瑕疵检测的准确度。

技术领域

本申请涉及图像分析技术领域，尤其涉及一种图像瑕疵检测方法、装置、电子设备及介质。

背景技术

在工业检测领域中，对于产品图像的破损、擦伤等缺陷的检测，能够确保产品的高品质。由于瑕疵存在不同尺度的变化，为此，目前的图像瑕疵检测方法无法涵盖各种尺度的瑕疵种类变化，从而降低瑕疵检测的准确度。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提供一种图像瑕疵检测方法、装置、电子设备及介质，能够提高瑕疵检测的准确度。

本申请的第一方面提供一种图像瑕疵检测方法，所述图像瑕疵检测方法包括：

当接收到图像瑕疵检测请求时，从所述图像瑕疵检测请求中提取待检测图像；

将所述待检测图像转换为多个不同预设尺寸的尺寸图像；

利用预先构建的编码器对所述多个尺寸图像进行特征提取，得到多个潜向量；

将所述多个潜向量输入至与所述编码器对应的解码器中，得到多个重构图像，及将所述多个潜向量输入至预先训练的高斯混合模型中，得到每个尺寸图像对应的估测概率；

将每个重构图像与每个尺寸图像进行比较，得到每个尺寸图像的计算误差；

根据每个估测概率及每个计算误差确定每个尺寸图像的总误差，并根据每个总误差及与每个总误差对应的预设阈值确定所述待检测图像的检测结果。

根据本申请优选实施例，所述从所述图像瑕疵检测请求中提取待检测图像包括：

从线程连接池中获取闲置线程；

利用所述闲置线程解析所述图像瑕疵检测请求的方法体，得到所述图像瑕疵检测请求中携带的所有信息；

获取预设标签，并根据所述预设标签从所述所有信息中提取与所述预设标签对应的信息作为所述待检测图像。

根据本申请优选实施例，所述将所述待检测图像转换为多个不同预设尺寸的尺寸图像包括：

根据所述图像瑕疵检测请求确定检测对象；

从所述待检测图像中提取包含所述检测对象的区域图像；

根据所述不同预设尺寸将所述区域图像转换为所述多个尺寸图像。

根据本申请优选实施例，所述利用预先构建的编码器对所述多个尺寸图像进行特征提取，得到多个潜向量包括：

对每个尺寸图像进行编码处理，得到每个尺寸图像的特征向量；

将每个特征向量输入至所述编码器中的多个隐层进行运算，并将最后一层隐层的输出向量确定为每个尺寸图像对应的潜向量。

根据本申请优选实施例，在将所述多个潜向量输入至预先训练的高斯混合模型中，得到每个尺寸图像对应的估测概率之前，所述图像瑕疵检测方法还包括：

获取多个训练图像；

对所述多个训练图像进行编码，得到多个编码向量，并对所述多个编码向量进行降维并归一化处理，得到多个低维向量；