[发明专利]一种双头探针及探针治具

说明书

本发明提供一种双头探针，包括主体，主体包括连接部、第一突出部和第二突出部，第一突出部和第二突出部分别设于连接部的两端，连接部外表面设有绝缘涂层，第一突出部和第二突出部裸露于绝缘涂层之外，绝缘涂层具有一定厚度，绝缘涂层在连接部上形成第一环形截面和第二环形截面，第一环形截面靠近第一突出部，第一突出部的端部与第一环形截面之间的距离为第一距离，第二环形截面靠近第二突出部，第二突出部的端部与第二环形截面之间的距离为第二距离，第一距离与第二距离的长度相同。本发明提供一种探针治具，包括治具本体和上述的双头探针，治具本体用于固定双头探针。具有提高探针的使用寿命，节省探针材料，降低测试成本的效果。

技术领域

本发明属于电子设备测试技术领域，尤其涉及一种双头探针及探针治具。

背景技术

在电子设备集成电路的测试领域，需要将探针的一端固定在治具上，控制治具使探针的另一端多次接触集成电路，探针在使用过程中，随着测试接触的次数越来越多，探针用于测试的一端磨损严重，一般一根探针经历100万次测试接触后就达到其使用寿命。当达到探针使用寿命后，由于用于测试的一端经常使用和受到磨损，用于固定的一端因没有与固定治具发生过多的摩擦，所以磨损不严重，因此往往造成探针用于测试的一端磨损已达到报废状态，但是用于固定的一端却还能正常使用，更换下来的探针其实只有一端达到报废状态，但是迫于探针只有一端能用于测试，只有通过更换探针这种方法，才能继续进行测试，造成了材料浪费，材料成本增加，维修和测试效率低下。

发明内容

本发明的目的在于克服上述现有技术存在的不足，提供一种双头探针及探针治具，解决了现有技术中探针只有一端可以用于测试，无法充分利用探针进行测试的问题，克服了探针材料浪费、测试成本高的缺陷。

第一方面，本发明提供一种双头探针，包括主体，所述主体包括连接部、第一突出部和第二突出部，所述第一突出部和第二突出部分别设于所述连接部的两端，所述连接部外表面设有绝缘涂层，所述第一突出部和第二突出部裸露于所述绝缘涂层之外，所述绝缘涂层具有一定厚度，所述绝缘涂层在所述连接部上形成第一环形截面和第二环形截面，所述第一环形截面靠近所述第一突出部，所述第一突出部的端部与所述第一环形截面之间的距离为第一距离，所述第二环形截面靠近所述第二突出部，所述第二突出部的端部与所述第二环形截面之间的距离为第二距离，所述第一距离与所述第二距离的长度相同。

进一步地，所述绝缘涂层包括第一厚度绝缘涂层和第二厚度绝缘涂层，所述第一厚度绝缘涂层在所述连接部上形成第一环形截面和第二环形截面，所述第二厚度绝缘涂层在所述第一厚度绝缘涂层上形成第三环形截面和第四环形截面，所述第三环形截面靠近所述第一环形截面，所述第三环形截面与所述第一环形截面之间的距离为第三距离，所述第四环形截面靠近所述第二环形截面，所述第四环形截面与所述第二环形截面之间的距离为第四距离，所述第三距离与所述第四距离的长度相同。

进一步地，所述第一突出部端部的形状为圆头状、尖头状或平头状中的一种，所述第二突出部端部的形状为圆头状、尖头状或平头状中的一种。

进一步地，所述第一距离的长度范围在1～5mm之间，相应地，所述第二距离的长度范围也在1～5mm之间。

进一步地，所述第一距离的长度为3mm，所述第二距离的长度为3mm。

进一步地，所述第三距离的长度范围在5～10mm之间，相应地，所述第四距离的长度范围也在5～10mm之间。

进一步地，所述第一距离的长度为8mm，所述第二距离的长度为8mm。

进一步地，所述绝缘涂层的材料为具有柔软性质的聚合物。

进一步地，所述主体由金属材料制成。

第二方面，本发明提供一种探针治具，包括治具本体和上述的双头探针，所述治具本体用于固定所述双头探针。

本发明的有益效果：