[发明专利]一种射频终端性能测试方法

说明书

本发明公开一种简易高效的射频终端性能测试方法，其包括如下步骤：搭建灵敏度测试环境后进行灵敏度测试；进行射频场信号强度测试；进行TypeA和TypeB调制信号波形测试。本发明降低RFID电气性能测试设备的投入成本，减少了EMVCo Contactless L1电气测试的时间投入，解决了现有检测机构的测试成本昂贵，标准测试设备昂贵，中小型公司，缺少条件购买标准测试设备，需要花费大量时间在检测机构进行测试验证的问题，有效节省了产品测试的时间和开发成本。

技术领域

本发明应用于射频终端检测领域，具体是一种简易高效的射频终端性能测试方法。

背景技术

无线射频识别即射频识别技术(Radio Frequency Identification，RFID)，是自动识别技术的一种，通过无线射频方式进行非接触双向数据通信，利用无线射频方式对记录媒体(电子标签或射频卡)进行读写，从而达到识别目标和数据交换的目的，其被认为是21世纪最具发展潜力的信息技术之一。

因为RFID交易的便捷性，在金融POS领域成为了一种标准的配置。应用场景涉及银行、商超、酒店、ATM等，应用场景广泛，交易量大，必须确保POS具有可靠的RFID性能。由国际卡组织联盟EMVCo发布的Contactless L1电气认证标准，就成为了金融POS的准入门槛。

具有非接触卡交易功能的金融产品，客户往往会要求通过国际卡组织EMVCo发布的Contactless L1电气认证。

EMV Contactless L1认证要求对产品提出以下3个测试要求：

①PCD设备必须能够辐射标准范围内的信号强度，确保有效激活卡片并不会损坏卡片。

②PCD设备必须能够产生标准的调制信号波形，确保卡片能够正常识别。

③PCD设备必须能够正确接收卡片的多种应答信号，确保完成完整的交易流程。

在上述测试中，以③灵敏度测试花费所需时间最长。

2020年1月1日之前，EMV Contactless L1采用V2.6版本，该版本下测试采用1个PICC，2020年1月1日之后，EMV Contactless L1测试版本由V2.6上升到V3.0，在新的测试标准下，测试采用3个PICC，测试量提升3倍。产品测试的复杂度提升，产品调试过程中测试时间明显变长。

检测机构的测试成本昂贵，标准测试设备则需花费百万。对于许多中小型公司，缺少条件购买标准测试设备，需要花费大量时间在检测机构进行测试验证。

因此，寻找一种可替代性高、成本低的非接触测试方案，对于大公司可以节省产品测试的时间，对于中小公司，还可以节省开发成本。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是针对现有技术的不足，提供一种简易高效的射频终端性能测试方法。

为解决上述技术问题，本发明的一种简易高效的射频终端性能测试方法，其包括如下步骤：

搭建灵敏度测试环境后进行灵敏度测试；

进行射频场信号强度测试；

进行TypeA和TypeB调制信号波形测试。

作为一种可能的实施方式，进一步的，所述搭建灵敏度测试环境后进行灵敏度测试具体包括如下步骤：

S1，分析标准测试设备的信号；

S2，通过示波器采集PICC输入的副载波调制信号，获取灵敏度测试所需信号；

S3，根据目标的测试项目，选择对应的信号，在信号发生器上进行配置；

S4，POS上将RFID芯片的IRQ管脚通过导线引出；