[发明专利]用于集成电路设计验证的方法、装置、设备以及存储介质

说明书

一种用于集成电路设计验证的方法、装置、设备以及存储介质。用于集成电路设计验证的方法包括：获取寄存器传输级文件中的第一功能点，寄存器传输级文件定义的功能集合包括第一功能点和至少一个第二功能点，第一功能点为需要验证的功能点，至少一个第二功能点为不需要验证的功能点；对第一功能点进行错误注入验证。该用于集成电路设计验证的方法可以节省整个错误注入验证的时间。

技术领域

本公开的实施例涉及一种用于集成电路设计验证的方法、装置、设备以及存储介质。

背景技术

随着集成电路(例如系统级芯片(SOC，system on chip))设计的复杂度和规模的提升，集成电路设计验证的复杂度和重要性也在不断增加。例如，在集成电路设计的整个周期中，验证工作所占有的时间是远远大于集成电路设计所使用的时间。验证的终极目标是保证集成电路设计的设计文件或设计代码等没有任何错误或漏洞(bug)，即达到验证的完备性。通常使用代码覆盖率和功能覆盖率等作为检查验证质量的手段，但是这些覆盖率只能检查测试激励是否足够，却不能保证设计中的错误都可以被验证环境检测到。如果验证环境中存在着一些漏洞，那么即使代码覆盖率以及功能覆盖率等都达到理想值，也不能保证设计代码中不存在错误，而通常这种错误都非常致命。错误注入方法通过将错误加入设计代码中，并检查原本可以通过(pass)的测试用例是否变为不通过(fail)，基于测试用例的通过情况来判断验证环境是否存在漏洞。

发明内容

本公开的实施例提供一种用于集成电路设计验证的方法、装置、设备以及存储介质。该用于集成电路设计验证的方法可以节省整个错误注入验证的时间。

本公开至少一个实施例提供了一种用于集成电路设计验证的方法，该方法包括：获取寄存器传输级文件中的第一功能点，其中，所述寄存器传输级文件定义的功能集合包括所述第一功能点和至少一个第二功能点，所述第一功能点为需要验证的功能点，所述至少一个第二功能点为不需要验证的功能点；对所述第一功能点进行错误注入验证。

例如，在本公开至少一实施例提供的用于集成电路设计验证的方法中，所述寄存器传输级文件包括对应于所述第一功能点的实现批处理格式的设计代码，对所述第一功能点进行错误注入验证，包括：基于所述第一功能点，向对应于所述第一功能点的所述实现批处理格式的设计代码进行错误注入；使用错误注入的所述实现批处理格式的设计代码和测试用例文件对所述第一功能点进行验证。

例如，在本公开至少一实施例提供的用于集成电路设计验证的方法中，获取所述寄存器传输级文件中的所述第一功能点，包括：查找所述寄存器传输级文件中的实现批处理格式的设计代码，得到对应于所述第一功能点的所述实现批处理格式的设计代码。

例如，在本公开至少一实施例提供的用于集成电路设计验证的方法中，所述第一功能点为在已有设计目标的寄存器传输级文件的基础上的新增功能点，所述至少一个第二功能点为所述在已有设计目标的寄存器传输级文件中被验证过的功能点。

例如，在本公开至少一实施例提供的用于集成电路设计验证的方法中，其中，对所述第一功能点进行错误注入验证之前，包括：调用所述测试用例文件，其中，所述测试用例文件包括测试用例，所述测试用例中对应于所述第一功能点的测试用例被标记；基于所述寄存器传输级文件对所述测试用例文件的所述测试用例进行覆盖率分析。

例如，在本公开至少一实施例提供的用于集成电路设计验证的方法中，使用错误注入的所述实现批处理格式的设计代码和测试用例文件对所述第一功能点进行验证，包括：查找所述测试用例文件中对应于所述第一功能点的被标记的测试用例；以及利用测试工具，基于所述被标记的测试用例，对错误注入的所述实现批处理格式的设计代码进行回归测试。

例如，在本公开至少一实施例提供的用于集成电路设计验证的方法中，分析所述回归测试的结果，当所述实现批处理格式的设计代码中注入的错误都能够被测试出来时，结束对所述第一功能点的验证。