[发明专利]一种基于迭代离散小波背景扣除的痕量元素XRF测定方法

权利要求书

1.一种基于迭代离散小波背景扣除的痕量元素XRF测定方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1：获得待测样品的原始检测谱线信号f₀；

步骤2：使用小波基对步骤1所得原始检测谱线信号f₀进行L层一维离散小波分解，得到L层离散小波分解层，再根据每一层的离散小波分解层重构出对应的一次低频逼近系数a_j，j＝1,…,L；其中，L由原始检测谱线信号f₀的谱线通道长度决定；

步骤3：根据步骤1所得原始检测谱线信号f₀的谱线形状，选择最接近但不超过各特征峰波谷位置的最优分解层v及其对应的一次低频逼近系数a_v；

步骤4：对步骤3所得一次低频逼近系数a_v进行迭代离散小波分解，当连续N次相邻两次迭代结果的差值均小于预设精度ε时，停止迭代，并将得到的最近一次迭代结果作为近似背景信号，所述原始检测谱线信号f₀减去近似背景信号后，得到扣除背景后信号；其中，N由实际精度要求决定；

步骤5：计算待测样品中干扰元素的康普顿峰散射强度I_c；

步骤6：从步骤4所得扣除背景后信号中选择待测样品的目标元素，并计算目标元素的特征X射线荧光强度I_p；

步骤7：分别对步骤5所得康普顿峰散射强度I_c和步骤6所得特征X射线荧光强度I_p做近似处理，得到目标元素的定量分析值，具体过程如下：

对于康普顿峰散射强度I_c，当忽略X射线吸收能量大于康普顿散射能量的元素时，干扰元素对初级辐射的质量吸收系数μ₀与干扰元素对康普顿散射射线的质量吸收系数μ_s存在线性关系，经近似处理后，得到的处理后康普顿峰散射强度I_c′为：

式中，r为μ₀与μ_s的线性比例系数；K为由X射线辐射源、待测样品、ψ和φ确定的常数；I₀为X射线的初级辐射射线强度；σ_c为干扰元素的康普顿散射截面积；ψ、φ分别为X射线与待测样品的入射角和出射角；

对于特征X射线荧光强度I_p，当忽略待测样品的背景信息变化时，μ₀与目标元素对特征X射线的质量吸收系数μ_k存在线性关系，经近似处理后，得到的处理后特征X射线荧光强度I_p′为：

式中，r'为μ₀与μ_k的线性比例系数；K_p为由XRF探测器总效率、X射线探头的荧光产额、ψ和φ确定的常数；C_p为待测样品中目标元素的浓度；

进而，所述目标元素的校正方程为处理后特征X射线荧光强度I_p′除以处理后康普顿峰散射强度I_c′：

2.根据权利要求1所述基于迭代离散小波背景扣除的痕量元素XRF测定方法，其特征在于，步骤5中康普顿峰散射强度I_c的计算公式为：

3.根据权利要求1、2任一所述基于迭代离散小波背景扣除的痕量元素XRF测定方法，其特征在于，步骤6中目标元素的特征X射线荧光强度I_p的计算公式为：