[发明专利]一种产品反光表面缺陷检测方法及系统在审

专利信息
申请号: 202011536436.4 申请日: 2020-12-22
公开(公告)号: CN112782179A 公开(公告)日: 2021-05-11
发明(设计)人: 刘磊;岳峰;李彬 申请(专利权)人: 北京市新技术应用研究所
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88
代理公司: 北京真致博文知识产权代理事务所(普通合伙) 11720 代理人: 苏畅
地址: 100035 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 产品 反光 表面 缺陷 检测 方法 系统
【说明书】:

发明提供一种产品反光表面缺陷检测方法,包括:获取待检测产品反光表面条纹图像及白色反光图像;获取待检测产品的感兴趣区域;获取感兴趣区域的基准点;条纹图像形态学滤波处理;图像二值化处理;基于模板图像的图像边缘形态学处理;缺陷检测。本发明还提供一种产品反光表面缺陷检测系统,包括:显示器、工业相机、图像处理设备、机械传动设备、产品固定夹具。本发明充分考虑产品表面图像检测面积和检测点数量各异、待检测区域反光且带有弧度等情况,利用白色反光图像信息分别获得待检测图像ROI的轮廓及轮廓内图像以及ROI的基准点,获取去除条纹干扰且缺陷能够很好保留的图像,实现待检测产品反光面中每个ROI缺陷的快速、精确、稳定的检测。

技术领域

本发明属于产品反光表面检测技术领域,尤其涉及一种产品反光表面缺陷检测方法及系统。

背景技术

在工业产品中,为了产品美观经常将其表面制作成反光样式。在其制作过程或表面烫印过程中,受制作工艺、烫印设备、外部环境等因素影响,制作完成后的反光表面有时会有气泡、凹凸不平、印痕、划伤、发丝、漏底等缺陷问题,这些缺陷将直接影响产品的整体美观和品质。

鉴于目前消费者对于产品的细节要求越来越高的情况下,生产厂商在生产过程中对于产品的质量及缺陷检测与筛选显得尤为重要。目前,在产品生产过程中产品的质量检测大多依赖于人的肉眼观察,其受主观因素的影响,存在着精度有限、效果不稳定和工作强度大等问题。为解决上述问题,本领域技术人员提供一些产品表面自动检测设备,但是目前的自动检测设备无法兼顾到图像检测面积大小不一、检测点数量各异、待检测区域反光且带有弧度等情况。

发明内容

为解决上述技术问题,本发明提供一种产品反光表面缺陷检测方法及系统。为了对披露的实施例的一些方面有一个基本的理解,下面给出了简单的概括。该概括部分不是泛泛评述,也不是要确定关键/重要组成元素或描绘这些实施例的保护范围。其唯一目的是用简单的形式呈现一些概念,以此作为后面的详细说明的序言。

本发明采用如下技术方案:

第一方面,提供一种产品反光表面缺陷检测方法,包括:获取待检测产品反光表面条纹图像及白色反光图像;获取待检测产品的感兴趣区域以及感兴趣区域的基准点;条纹图像形态学滤波处理;对条纹图像形态学滤波处理后的图像进行二值化处理;基于所述感兴趣区域的基准点,将模板图像依据下式对其进行透射变换,通过计算变换后模板图像ROI的轮廓信息,去除二值化处理后生成的待检测图像边缘,处理后的图像只保留缺陷信息:

其中,为透射变换矩阵,为源目标点,为目标坐标点。

进一步的,所述获取待检测产品反光表面条纹图像及白色反光图像的过程包括:显示器显示N步相移正弦条纹I(x,y)并投影到待检测产品上,工业相机采集待检测产品反光表面的条纹图像,其中,N≥4,式中a与b为常数,p为光栅条纹周期,Φ(x,y)为初始相位;所述显示器产生覆盖待检测产品的白色光,所述工业相机采集待检测产品的白色反光图像。

进一步的,所述获取待检测产品的感兴趣区域的过程之前还包括:利用滤波器对获取的所述条纹图像及白色反光图像进行滤波处理。

进一步的,所述获取待检测产品的感兴趣区域的过程包括:对所述白色反光图像进行二值化处理;基于白色反光图像边缘位置先验信息,对二值化处理后的图像中的每个ROI进行掩膜处理,获得待处理图像中每个ROI的轮廓及轮廓内图像。

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