[发明专利]轮廓检测方法、装置、设备及存储介质有效
申请号: | 202011536729.2 | 申请日: | 2020-12-23 |
公开(公告)号: | CN112598645B | 公开(公告)日: | 2022-07-01 |
发明(设计)人: | 陈海波;李宗剑 | 申请(专利权)人: | 深兰智能科技(上海)有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/70;G01B21/20 |
代理公司: | 苏州领跃知识产权代理有限公司 32370 | 代理人: | 王宁 |
地址: | 200000 上海市浦东新区中国(上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 轮廓 检测 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
1.一种轮廓检测方法,其特征在于,所述方法包括:
获取参考产品的轮廓扫描数据,所述轮廓扫描数据包括第一轮廓线至第N轮廓线的扫描数据,N是正整数;
获取待检测产品的第k轮廓线的扫描数据,k是不大于N的正整数;
根据所述参考产品的第k轮廓线的扫描数据和所述待检测产品的第k轮廓线的扫描数据,检测所述待检测产品的第k轮廓线是否满足第一预定条件;
若不满足所述第一预定条件,则生成第一控制指令并发送至轮廓检测设备,以使所述轮廓检测设备根据所述第一控制指令停止检测;
目标产品是所述参考产品或者所述待检测产品;
获取所述目标产品的轮廓扫描数据的方法包括:
获取扫描时序信息,所述扫描时序信息包括N个时序标识以及每个所述时序标识对应的所述轮廓检测设备的位姿信息,所述N个时序标识包括第一时序标识至第N时序标识,且第i时序标识对应轮廓扫描的第i时序,所述位姿信息包括位置信息和/或姿态信息,i是不大于N的正整数;
根据所述扫描时序信息,生成第二控制指令并发送至所述轮廓检测设备,以使所述轮廓检测设备在所述第i时序按照所述第i时序标识对应的位姿信息扫描所述目标产品,得到所述目标产品的第i轮廓线的扫描数据;
接收所述轮廓检测设备发送的所述目标产品的第i轮廓线的扫描数据。
2.根据权利要求1所述的轮廓检测方法,其特征在于,所述获取待检测产品的第k轮廓线的扫描数据,包括:
获取所述待检测产品的轮廓扫描数据;
根据所述待检测产品的轮廓扫描数据,获取所述待检测产品的第k轮廓线的扫描数据。
3.根据权利要求1所述的轮廓检测方法,其特征在于,所述获取待检测产品的第k轮廓线的扫描数据,包括:
根据第k时序标识对应的位姿信息,生成第三控制指令并发送至所述轮廓检测设备,以使所述轮廓检测设备按照所述第k时序标识对应的位姿信息扫描所述待检测产品,得到所述待检测产品的第k轮廓线的扫描数据;
接收所述轮廓检测设备发送的所述待检测产品的第k轮廓线的扫描数据。
4.根据权利要求1所述的轮廓检测方法,其特征在于,所述第一预定条件包括以下至少一种:
所述待检测产品的第k轮廓线和所述参考产品的第k轮廓线重合或者近似重合;
所述待检测产品的第k轮廓线的累积残差小于预定累积残差,所述累积残差用于指示所述待检测产品的第k轮廓线与所述参考产品的第k轮廓线的偏差。
5.根据权利要求1所述的轮廓检测方法,其特征在于,所述生成第一控制指令并发送至轮廓检测设备,包括:
根据所述参考产品的第k轮廓线的扫描数据和所述待检测产品的第k轮廓线的扫描数据,检测所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响程度是否满足第二预定条件;
若满足所述第二预定条件,则生成所述第一控制指令并发送至所述轮廓检测设备。
6.根据权利要求5所述的轮廓检测方法,其特征在于,所述检测所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响程度是否满足第二预定条件,包括:
获取所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响参数值;
检测所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响参数值是否处于预定取值范围;
若处于所述预定取值范围,则确定所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响程度满足所述第二预定条件。
7.根据权利要求5所述的轮廓检测方法,其特征在于,所述检测所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响程度是否满足第二预定条件,包括:
获取所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响类型;
检测所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响类型是否是预定类型;
若是所述预定类型,则确定所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响程度满足所述第二预定条件。
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