[发明专利]一种基于题目参数的学情分析系统在审
申请号: | 202011538515.9 | 申请日: | 2020-12-23 |
公开(公告)号: | CN112634097A | 公开(公告)日: | 2021-04-09 |
发明(设计)人: | 余月清;喻曦;王民伟;王惜骞;汪培 | 申请(专利权)人: | 贵州树精英教育科技有限责任公司 |
主分类号: | G06Q50/20 | 分类号: | G06Q50/20;G06F16/245;G06F16/248;G09B7/02 |
代理公司: | 北京盛凡智荣知识产权代理有限公司 11616 | 代理人: | 李朦 |
地址: | 550003 贵州省安*** | 国省代码: | 贵州;52 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 题目 参数 情分 系统 | ||
本发明公开了一种基于题目参数的学情分析系统,包括知识点选取模块、试题生成模块、答题数据接收模块、学情分析服务器、显示模块、数据存储模块,知识点选取模块用于接收教师端选定的知识点;试题生成模块用于根据知识点选取模块选定的知识点调用试题库中的试题,并将生成的试题发送至学生端;答题数据接收模块用于接收学生端返回的答题数据,并将答题数据传输至学情分析服务器;学情分析服务器将接收到的答题数据进行处理、分析后,制作成可视化的图表和分析结果数据,并传输至显示模块;本发明方案不仅可以分析学生的学习情况,还可以针对相应的知识点具体分析学生对于知识点的掌握情况。
技术领域
本发明涉及教学辅助设备技术领域,具体是指一种基于题目参数的学情分析系统。
背景技术
学情分析系统以数据科学为基础,基于学习者个体的差异提供个性化的学习诊断、学习建议、并记录学习者的历史学习记录,便于数据挖掘和深入分析,绘制出学习者的整个学习曲线,提供统计工具和诊断报告,对学生的知识结构进行详细诊断,寻找学习的盲点。现有的学情分析系统虽然可以在一定程度上做出对学生的知识结构进行详细诊断,但是并不能针对学生对于知识点的掌握程度进行深入的分析研究。
所以,一种基于题目参数的学情分析系统成为人们亟待解决的问题。
发明内容
本发明要解决的技术问题是现有技术存在虽然可以在一定程度上做出对学生的知识结构进行详细诊断,但是并不能针对学生对于知识点的掌握程度进行深入的分析研究问题。
为解决上述技术问题,本发明提供的技术方案为:一种基于题目参数的学情分析系统,包括知识点选取模块、试题生成模块、答题数据接收模块、学情分析服务器、显示模块、数据存储模块,所述知识点选取模块包括知识点访问指令接收单元、知识点集单元以及选定知识点接收单元,所述知识点选取模块用于接收教师端选定的知识点;
所述试题生成模块用于根据所述知识点选取模块选定的知识点调用试题库中的试题,并将生成的试题发送至学生端;
所述答题数据接收模块用于接收学生端返回的答题数据,并将答题数据传输至学情分析服务器;
所述学情分析服务器将接收到的答题数据进行处理、分析后,制作成可视化的图表和分析结果数据,并传输至显示模块;
所述显示模块用于显示可视化的图表和分析结果数据;
所述数据存储模块用于存储答题数据、可视化的图表和分析结果数据。
进一步地,所述学情分析服务器包括习题标识确定单元、试卷题头确定单元、评分单元、错题摘录单元和分数统计单元。
进一步地,所述习题标识确定单元用于确定试卷印刷时设置的定位标记,进而对客观题答题区、主观题答题区和各习题位置进行定位。
进一步地,所述试卷题头确定单元用于通过事先印刷在试卷上答题人信息处的定位标记的引导来确定答题人信息。
进一步地,所述评分单元用于对经习题标识确定单元对进行确认后的各习题打分区的分数标记进行图像识别,并把识别的结果进行统计分析。
进一步地,所述错题摘录单元通过习题标识确定单元对习题确认,评分单元对分数进行识别后,将错题进行摘录,将做错的习题以图片的方式进行存储。
进一步地,所述分数统计单元针对评分单元产生的分数进行统计分析,并制作成可视化的图表和分析结果。
进一步地,所述显示屏为触摸液晶显示屏。
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