[发明专利]AI辅助检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种AI辅助检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待检测对象的2D检测信息；

根据所述2D检测信息，使用缺陷检测模型得到缺陷的位置信息；

根据所述缺陷的位置信息控制3D轮廓仪对所述待检测对象进行区域性扫描，以使所述3D轮廓仪得到所述缺陷的轮廓信息。

2.根据权利要求1所述的AI辅助检测方法，其特征在于，所述方法还包括：

检测所述待检测对象是否就位；

若就位，则控制2D检测装置检测所述待检测对象，以使所述2D检测装置得到所述待检测对象的2D检测信息。

3.根据权利要求2所述的AI辅助检测方法，其特征在于，所述方法还包括：

若未就位，则等待预定时间后再次检测所述待检测对象是否就位，并在检测到所述待检测对象就位后，控制所述2D检测装置检测所述待检测对象。

4.根据权利要求1所述的AI辅助检测方法，其特征在于，获取所述缺陷检测模型的方法包括：

获取样本对象的2D检测信息以及所述样本对象的缺陷的标注数据；

根据所述样本对象的2D检测信息以及所述样本对象的缺陷的标注数据，使用深度学习模型进行训练，得到所述缺陷检测模型。

5.根据权利要求1所述的AI辅助检测方法，其特征在于，所述根据所述2D检测信息，使用缺陷检测模型得到缺陷的位置信息，包括：

根据所述2D检测信息，使用所述缺陷检测模型检测所述待检测对象是否存在缺陷；

如果存在缺陷，则得到所述缺陷的位置信息。

6.根据权利要求5所述的AI辅助检测方法，其特征在于，所述方法还包括：

如果不存在缺陷，则控制2D检测装置检测下一个所述待检测对象。

7.根据权利要求1所述的AI辅助检测方法，其特征在于，所述方法还包括：

根据所述2D检测信息，获取所述待检测对象的2D尺寸信息；

所述根据所述缺陷的位置信息控制3D轮廓仪对所述待检测对象进行区域性扫描，包括：

根据所述缺陷的位置信息和所述2D尺寸信息，控制所述3D轮廓仪对所述待检测对象进行区域性扫描。

8.根据权利要求1所述的AI辅助检测方法，其特征在于，所述根据所述缺陷的位置信息控制3D轮廓仪对所述待检测对象进行区域性扫描，包括：

根据所述缺陷的位置信息获取扫描区域信息；

根据所述扫描区域信息控制所述3D轮廓仪对所述待检测对象进行区域性扫描。

9.一种AI辅助检测装置，其特征在于，所述装置包括：

信息获取模块，用于获取待检测对象的2D检测信息；

缺陷获取模块，用于根据所述2D检测信息，使用缺陷检测模型得到缺陷的位置信息；

扫描控制模块，用于根据所述缺陷的位置信息控制3D轮廓仪对所述待检测对象进行区域性扫描，以使所述3D轮廓仪得到所述缺陷的轮廓信息。

10.根据权利要求9所述的AI辅助检测装置，其特征在于，所述装置还包括就位检测模块，所述就位检测模块用于检测所述待检测对象是否就位，若就位，则控制2D检测装置检测所述待检测对象，以使所述2D检测装置得到所述待检测对象的2D检测信息。

11.根据权利要求10所述的AI辅助检测装置，其特征在于，所述就位检测模块还用于若未就位，则等待预定时间后再次检测所述待检测对象是否就位，并在检测到所述待检测对象就位后，控制所述2D检测装置检测所述待检测对象。

12.根据权利要求9所述的AI辅助检测装置，其特征在于，所述信息获取模块还用于根据所述2D检测信息，获取所述待检测对象的2D尺寸信息；

所述扫描控制模块还用于根据所述缺陷的位置信息和所述2D尺寸信息，控制所述3D轮廓仪对所述待检测对象进行区域性扫描。