[发明专利]基于部分重传的并行CRC校验方法及系统有效

专利信息
申请号: 202011539998.4 申请日: 2020-12-23
公开(公告)号: CN112671511B 公开(公告)日: 2022-03-18
发明(设计)人: 谢静 申请(专利权)人: 上海微波技术研究所(中国电子科技集团公司第五十研究所)
主分类号: H04L1/00 分类号: H04L1/00;H04L1/18
代理公司: 上海段和段律师事务所 31334 代理人: 李佳俊;郭国中
地址: 200063 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 基于 部分 并行 crc 校验 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种基于部分重传的并行CRC校验方法,其特征在于,包括:

步骤M1:初次传输时,发送端在TB数据流末端添加TB级CRC校验信息,对添加的TB级CRC校验信息后的新信息序列长度La进行码块分割,分割成C个长度为L的码块,再对各个码块分别添加CB级CRC、编码、速率匹配和交织,并发送至接收端;

步骤M2:接收端对每个码块分别进行解交织、解速率匹配、译码以及CB级CRC校验;当第ii个码块CBii对应的CB级CRC校验通过时,输出对应码块做TB级CRC校验,当第ii个码块CBii对应的CB级CRC校验失败时,输出L个0比特流做TB级CRC校验,直至最后一个码块对应的CB级CRC校验完成,记录所有码块的TB级CRC校验结果CLa

步骤M3:对上一次CB级CRC校验未通过的码块进行重传;

步骤M4:对重传的码块进行TB级CRC校验,对于上一次CB级CRC校验通过的码块以及当前CB级CRC校验未通过的码块均按照全0参与TB级CRC校验,当前CB级CRC校验通过的码块按对应码块的比特流进行TB级CRC校验,直至最后一个码块对应的CB级CRC校验完成,记录所有码块的TB级CRC校验结果temp;

步骤M5:将前后两次传输对应的TB级CRC结果进行异或,更新校验结果CLa′存储;

步骤M6:当当前仍存在CB级CRC校验未通过,则重复执行步骤M3至步骤M5,直至重传次数达到预设次或全部CB级CRC校验通过,记录当前传输次数Rt;

步骤M7:当传输次数Rt为奇数或CRC寄存器初始状态INIT为全0时,CB级CRC均校验通过且CLa′为全0时,表示TB级CRC校验通过;当传输次数Rt为偶数且CRC寄存器初始状态INIT为非0时,将CRC寄存器初始状态INIT添加到原始TB数据流前端,重复执行步骤M1至步骤M7,直至TB级CRC校验通过。

2.根据权利要求1所述的基于部分重传的并行CRC校验方法,其特征在于,所述步骤M3包括:将上一次CB级CRC校验未通过的码块以码块组为单位反馈给NACK,根据NACK反馈信息进行码块重传,重传时将上一次CB级CRC校验未通过的码块组下发数据。

3.根据权利要求1所述的基于部分重传的并行CRC校验方法,其特征在于,所述步骤M2中输出L个0比特流做TB级CRC校验包括:当输出L个0比特流做TB级CRC校验时,则采用公式法直接跳转到下一个校验正确CB的CRC初始状态。

4.根据权利要求3所述的基于部分重传的并行CRC校验方法,其特征在于,所述采用公式法包括:对于初传解错的第jj个码块CBjj,在进行TB级CRC校验时,直接按长度为L的全0比特参与TB级校验,CRC并行度的选择满足L=K*a+S*b,L个比特的CRC校验通过a次K位并行和b次S位并行表示,假设S位并行对应的参数矩阵为Hx1和Hy1,则L个全0比特的CRC跳转公式表示为:Cjj+1=Cjj*(Hx)a*(Hx1)b

其中,K位并行的公式表示为:

其中,Hx和Hy分别为对应的参数矩阵;表示异或操作;D1表示K位并行的比特向量,C1表示k位并行后CRC状态;C0表示当前比特数据流初始的CRC状态;Cjj表示当前比特数据流初始的CRC状态,Cjj+1表示并行后的CRC状态。

5.根据权利要求1所述的基于部分重传的并行CRC校验方法,其特征在于,所述步骤M5包括:

其中,表示异或操作。

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