[发明专利]一种峰值功率多脉冲参数测量方法

说明书

本发明公开了一种峰值功率多脉冲参数测量方法，属于测量技术领域。本发明通过基于FPGA的回读技术和采样数据统计技术，一次测量可以同时完成屏内所有脉冲的上升时间、下降时间、脉冲宽度、脉冲周期、关闭时间等脉冲参数的测量，从而满足了用户对复杂脉冲调制信号多个脉冲的参数测量需求，同时由于是对满屏内采样数据的处理，脉冲参数的测量精度和准确度更高，并且不受屏内脉冲个数的影响。

技术领域

本发明属于测量技术领域，具体涉及一种峰值功率多脉冲参数测量方法。

背景技术

在进行峰值功率测量时，需要测量各种脉冲参数：上升时间、下降时间、脉冲周期、脉冲宽度、关闭时间，而要计算这些参数必须对脉冲数据进行各种处理，求取每一个沿在时间轴的索引值，从而计算出这些脉冲参数。

与本发明最接近的方案是采用纯软件的处理方法，对满屏(501个像素点)的迹线数据进行数据处理和运算，最后基于像素位置转换为沿的时间轴，从而计算出各个脉冲参数值。

由于满屏的像素点只有501个，只能基于这些点进行数据处理，导致测量出的脉冲参数的误差比较大，随着满屏脉冲个数数量增多，计算误差急剧增大，脉冲个数多到一定程度时，甚至无法完成脉冲参数的测量。同时，由于纯软件的处理方式，速度比较慢，如果处理的脉冲数量过多，会大大降低测量的速度，影响用户体验。

发明内容

针对现有技术中存在的上述技术问题，本发明提出了一种峰值功率多脉冲参数测量方法，设计合理，克服了现有技术的不足，具有良好的效果。

为了实现上述目的，本发明采用如下技术方案：

一种峰值功率多脉冲参数测量方法，采用FPGA，包括如下步骤：

步骤1：基于FPGA的回读技术确定满屏内各个沿的位置索引；具体包括如下步骤：

步骤1.1：根据FPGA锁定的触发位置和用户设置的包括水平刻度、水平起始、触发延时在内的参数，计算出FPGA需要从其内部的采样存储器RAM中回读的起始地址和长度，并发送给FPGA启动回读；

步骤1.2：FPGA每一个采样时钟都会从采样存储器RAM中读取一个采样数据，并将读到的采样数据依次送到FPGA内部的数字比较器；

步骤1.3：通过数字比较器和用户给定的触发电平，锁存每一个触发沿的位置索引；

步骤1.4：回读结束后对所有触发沿的位置索引进行后续处理；

步骤2：根据满屏的采样数据，采用采样数据统计算法确定脉冲的顶部幅值和底部幅值；具体包括如下步骤：

步骤2.1：将所有的采样数据按照大小顺序进行整理，以此统计每一个采样数据所占整个采样数据的频数；

步骤2.2：将数据频数最大的数据作为脉冲的幅值；

步骤3：通过底部和顶部幅值，计算满屏内所有脉冲的脉冲参数值；具体包括如下步骤：

步骤3.1：根据步骤1中给出的触发沿的位置索引，计算每一个触发沿任意电平点对应的ADC索引值；

步骤3.2：将这些索引值按照采样频率转换为时间值，计算出满屏内所有脉冲的脉冲参数值。

本发明所带来的有益技术效果：

本发明提出了微波峰值功率测量中一种多脉冲参数测量方法，通过基于FPGA的回读技术和采样数据统计技术，一次测量可以同时完成屏内所有脉冲的上升时间、下降时间、脉冲宽度、脉冲周期、关闭时间等脉冲参数的测量，从而满足了用户对复杂脉冲调制信号多个脉冲的参数测量需求，同时由于是对满屏内采样数据的处理，脉冲参数的测量精度和准确度更高，并且不受屏内脉冲个数的影响。

附图说明