[发明专利]一种通过控制收尾形状获得无位错重掺锑硅单晶的方法在审
申请号: | 202011542807.X | 申请日: | 2020-12-23 |
公开(公告)号: | CN112725889A | 公开(公告)日: | 2021-04-30 |
发明(设计)人: | 王万华;李英涛;皮小争;崔彬;吴志强;刘斌 | 申请(专利权)人: | 有研半导体材料有限公司;山东有研半导体材料有限公司 |
主分类号: | C30B29/06 | 分类号: | C30B29/06;C30B15/22;C30B15/04 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 通过 控制 收尾 形状 获得 无位错重掺锑硅单晶 方法 | ||
1.一种通过控制收尾形状获得无位错重掺锑硅单晶的方法,其特征在于,在单晶的收尾过程中,通过控制收尾的拉速和温度,使尾部形状中出现一段与等径部分形状相同的圆柱形;如果收尾完好,可以清晰的看到“胞线”,表明硅单晶尾部无位错,单晶完好;如果收尾不完好,可以明显看到“断胞”的位置;从“断胞”的位置反切1.08~1.15倍直径,获得无位错硅单晶。
2.根据权利要求1所述的通过控制收尾形状获得无位错重掺锑硅单晶的方法,其特征在于,所述重掺锑硅单晶的电阻率≤20mΩ·Gm,晶向为100。
3.根据权利要求1所述的通过控制收尾形状获得无位错重掺锑硅单晶的方法,其特征在于,所述重掺锑硅单晶直径为6英寸以上。
4.根据权利要求1所述的通过控制收尾形状获得无位错重掺锑硅单晶的方法,其特征在于,所述尾部形状包括圆台形部分、圆柱部分和圆锥形部分。
5.根据权利要求4所述的通过控制收尾形状获得无位错重掺锑硅单晶的方法,其特征在于,所述尾部形状的总长度为200mm以上,所述圆柱形部分的长度为70-100mm。
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