[发明专利]基于覆盖膜厚度的FCCL弯折疲劳应力的预测方法有效
申请号: | 202011544008.6 | 申请日: | 2020-12-24 |
公开(公告)号: | CN112685932B | 公开(公告)日: | 2023-02-10 |
发明(设计)人: | 付松;徐颖龙;吴远丽;张昕;虞成城 | 申请(专利权)人: | 深圳市信维通信股份有限公司 |
主分类号: | G06F30/23 | 分类号: | G06F30/23;G06Q10/04;G06F17/18;G06F119/14 |
代理公司: | 深圳市博锐专利事务所 44275 | 代理人: | 汤星星 |
地址: | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 覆盖 厚度 fccl 疲劳 应力 预测 方法 | ||
1.一种基于覆盖膜厚度的FCCL弯折疲劳应力的预测方法,其特征在于,所述FCCL包括依次层叠的第一覆盖膜层、基材层、铜箔层和第二覆盖膜层;所述预测方法包括:
预设第一覆盖膜厚度集合和第二覆盖膜厚度集合,所述第一覆盖膜厚度集合中包含预设的第一个数的第一覆盖膜厚度,所述第二覆盖膜厚度集合包含预设的第二个数的第二覆盖膜厚度;
根据所述第一覆盖膜厚度集合、所述第二覆盖膜厚度集合、预设的铜箔厚度、预设的基材厚度和预设的长度,构建分别与各第一覆盖膜厚度和各第二覆盖膜厚度一一对应的几何模型;
分别将各几何模型导入仿真软件,仿真得到所述几何模型弯折预设角度时,铜箔层所受到的最大应力值;
根据各几何模型对应的第一覆盖膜厚度和第二覆盖膜厚度及其仿真得到的铜箔层所受到的最大应力值,通过预设的多项式回归方程,拟合得到铜箔层最大应力值的回归模型;
根据所述铜箔层最大应力值的回归模型以及待测FCCL中的第一覆盖膜厚度和第二覆盖膜厚度,对弯折预设角度的所述待测FCCL中的铜箔层所受到的应力值进行预测。
2.根据权利要求1所述的基于覆盖膜厚度的FCCL弯折疲劳应力的预测方法,其特征在于,所述根据所述第一覆盖膜厚度集合、所述第二覆盖膜厚度集合、预设的铜箔厚度、预设的基材厚度和预设的长度,构建分别与各第一覆盖膜厚度和各第二覆盖膜厚度一一对应的几何模型之后,进一步包括:
分别将各几何模型导入仿真软件,仿真得到所述几何模型弯折预设角度时,基材层所受到的最大应力值;
根据各几何模型对应的第一覆盖膜厚度和第二覆盖膜厚度及其仿真得到的基材层所受到的最大应力值,通过预设的多项式回归方程,拟合得到基材层最大应力值的回归模型;
根据所述基材层最大应力值的回归模型以及待测FCCL中的第一覆盖膜厚度和第二覆盖膜厚度,对弯折预设角度的所述待测FCCL中的基材层所受到的应力值进行预测。
3.根据权利要求1或2所述的基于覆盖膜厚度的FCCL弯折疲劳应力的预测方法,其特征在于,所述预设角度为135°。
4.根据权利要求1或2所述的基于覆盖膜厚度的FCCL弯折疲劳应力的预测方法,其特征在于,所述多项式回归方程为P=β0+β1x+β2y+β3x2+β4xy+β5y2,所述P为最大应力值,x表示第一覆盖膜厚度,y表示第二覆盖膜厚度,β0,β1,β2,β3,β4,β5为回归方程的系数。
5.根据权利要求1所述的基于覆盖膜厚度的FCCL弯折疲劳应力的预测方法,其特征在于,所述根据各几何模型对应的第一覆盖膜厚度和第二覆盖膜厚度及其仿真得到的铜箔层所受到的最大应力值,通过预设的多项式回归方程,拟合得到铜箔层最大应力值的回归模型之后,进一步包括:
对所述回归模型进行方差分析。
6.根据权利要求1所述的基于覆盖膜厚度的FCCL弯折疲劳应力的预测方法,其特征在于,所述第一覆盖膜厚度集合中包含3个第一覆盖膜厚度,分别为27μm、32μm和37μm。
7.根据权利要求1所述的基于覆盖膜厚度的FCCL弯折疲劳应力的预测方法,其特征在于,所述第二覆盖膜厚度集合中包含3个第二覆盖膜厚度,分别为27μm、32μm和37μm。
8.根据权利要求1所述的基于覆盖膜厚度的FCCL弯折疲劳应力的预测方法,其特征在于,所述预设的铜箔厚度为12μm,所述预设的基材厚度为25μm,所述预设的长度为6mm。
9.根据权利要求1所述的基于覆盖膜厚度的FCCL弯折疲劳应力的预测方法,其特征在于,所述几何模型的个数为第一个数和第二个数的乘积。
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