[发明专利]基于侧面散射光探测的增益光纤吸收系数测量装置和方法

权利要求书

1.一种基于侧面散射光探测的增益光纤吸收系数测量装置，其特征在于，包括光纤探测器和光纤固定台；

所述光纤探测器通过滑动结构设置在所述光纤固定台上；

所述光纤探测器和所述光纤固定台的相对表面构成横截面形状固定的管状通道，所述管状通道的设置方向和所述光纤探测器的滑动方向一致，所述管状通道用于固定放置待测增益光纤；

所述光纤探测器用于当测试光信号通过待测增益光纤时，滑动到多个预设的测量位置并获取所述待测增益光纤的侧面散射光信号；

所述增益光纤吸收系数测量装置还包括测试光源、场模匹配器和输出光接收器；

所述测试光源用于生成测试光信号；

所述场模匹配器的输入光纤与所述测试光源匹配，所述场模匹配器的输出光纤与待测增益光纤的纤芯或内包层匹配；其中，当测量纤芯吸收系数时，所述场模匹配器的输出光纤与待测增益光纤的纤芯完全匹配；当测量包层吸收系数时，所述场模匹配器的输出光纤是与待测增益光纤的内包层完全匹配的无芯多模光纤；

所述测试光源、所述场模匹配器、待测增益光纤和所述输出光接收器依次连接形成光路；

所述光纤探测器包括光电二极管和探测电路；

所述光电二极管的光学窗口朝向待测增益光纤设置，用于当测试光信号通过待测增益光纤时，接收所述待测增益光纤的侧面散射光，将所述侧面散射光转换为对应的电流信号；

所述探测电路用于接收所述光电二极管输出的电流信号，将所述电流信号转换为对应的电压信号；

所述装置还包括位置标尺和位置指针；

所述位置标尺设置在所述光纤固定台上，所述位置指针设置在所述光纤探测器上；

当所述光纤探测器沿待测增益光纤的设置方向移动时，根据所述位置标尺和所述位置指针的相对位置，得到对应的测量位置值；

所述光纤固定台在与所述光纤探测器相对的表面上，沿所述光纤探测器的滑动方向设有光纤限位槽，所述光纤限位槽和所述光纤探测器的表面形成管状通道，所述光纤限位槽的深度和宽度与待测增益光纤的直径匹配；

所述光纤限位槽为光滑直道，且所述光滑直道的内表面为反光面。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述待测增益光纤的长度小于1m。

3.一种基于侧面散射光探测的增益光纤吸收系数测量方法，其特征在于，使用如权利要求1或2所述的增益光纤吸收系数测量装置测量待测增益光纤的吸收系数，所述方法包括：

将测试光信号输入待测增益光纤，滑动光纤探测器到多个预设的测量位置，获取所述待测增益光纤的侧面散射光信号；

根据多个所述测量位置的所述侧面散射光信号的强度变化，得到所述待测增益光纤的吸收系数值。

4.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求3所述方法的步骤。

5.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求3所述方法的步骤。