[发明专利]纠缠量子态分辨方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种纠缠量子态分辨方法，包括：

确定待进行纠缠分辨的初始量子态，其中，所述初始量子态至少是第一组量子比特和第二组量子比特所对应的量子态，所述第一组量子比特包含有至少一个第一量子比特，所述第二组量子比特包括有至少一个第二量子比特；

将与所述第一组量子比特对应的第一参数化量子电路作用到所述至少一个第一量子比特上，并得到第一测量结果，其中，所述第一测量结果表征作用所述第一参数化量子电路后的所述至少一个第一量子比特的状态信息；

从与所述第二组量子比特对应的第二参数化量子电路中，选取出与所述第一测量结果相匹配的目标第二参数化量子电路，并将所述目标第二参数化量子电路作用到所述第二组量子比特中的所述至少一个第二量子比特上，得到第二测量结果，其中，所述第二测量结果表征作用所述目标第二参数化量子电路后的所述至少一个第二量子比特的状态信息；

至少基于所述第二测量结果对所述初始量子态进行纠缠分辨，以分辨出所述初始量子态所属的目标态。

2.根据权利要求1所述的方法，还包括：

确定量子比特集合，其中，所述量子比特集合中包含有相互纠缠或不纠缠的至少两个量子比特；

将所述量子比特集合所包含的至少两个量子比特拆分成至少两部分，得到第一组量子比特和第二组量子比特。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，所述至少基于所述第二测量结果对所述初始量子态进行纠缠分辨，以识别出所述初始量子态所属的目标态，包括：

获取最小化损失函数后所得到的针对所述第一参数化量子电路的目标第一参数，和针对所述目标第二参数化量子电路的目标第二参数；其中，所述损失函数是基于所述初始量子态的疑似目标态与所述初始量子态所属的真实目标态之间的差异而确定出的，所述疑似目标态是基于所述第二测量结果所确定出的；

利用带入所述目标第一参数后的所述第一参数化量子电路，以及带入所述目标第二参数后的所述目标第二参数化量子电路，识别出所述初始量子态所属的目标态。

4.根据权利要求3所述的方法，其中，所述利用带入所述目标第一参数后的所述第一参数化量子电路，以及带入所述目标第二参数后的所述目标第二参数化量子电路，识别出所述初始量子态所属的目标态，包括：

将带入所述目标第一参数后的所述第一参数化量子电路作用到所述至少一个第一量子比特上，得到优化后的第一测量结果；

从与所述第二组量子比特对应的第二参数化量子电路中，选取出与优化后的所述第一测量结果相匹配的目标第二参数化量子电路，并将所述目标第二参数带入选取出的目标第二参数化量子电路后，作用到所述第二组量子比特中的所述至少一个第二量子比特上，得到优化后的第二测量结果；

基于优化后的所述第二测量结果识别得到所述初始量子态所属的目标态。

5.根据权利要求3所述的方法，其中，所述损失函数是基于所述疑似目标态的错误概率而得到的，所述错误概率是基于所述疑似目标态与所述真实目标态之间的差异而确定出的。

6.一种纠缠量子态分辨装置，包括：

初始量子态确定单元，用于确定待进行纠缠分辨的初始量子态，其中，所述初始量子态至少是第一组量子比特和第二组量子比特所对应的量子态，所述第一组量子比特包含有至少一个第一量子比特，所述第二组量子比特包括有至少一个第二量子比特；

第一参数化量子电路处理单元，用于将与所述第一组量子比特对应的第一参数化量子电路作用到所述至少一个第一量子比特上，并得到第一测量结果，其中，所述第一测量结果表征作用所述第一参数化量子电路后的所述至少一个第一量子比特的状态信息；

第二参数化量子电路处理单元，用于从与所述第二组量子比特对应的第二参数化量子电路中，选取出与所述第一测量结果相匹配的目标第二参数化量子电路，并将所述目标第二参数化量子电路作用到所述第二组量子比特中的所述至少一个第二量子比特上，得到第二测量结果，其中，所述第二测量结果表征作用所述目标第二参数化量子电路后的所述至少一个第二量子比特的状态信息；

目标态识别单元，用于至少基于所述第二测量结果对所述初始量子态进行纠缠分辨，以分辨出所述初始量子态所属的目标态。