[发明专利]一种高分辨率的正电子发射型计算机断层显像系统在审
| 申请号： | 202011550171.3 | 申请日： | 2020-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN112754509A | 公开（公告）日： | 2021-05-07 |
| 发明（设计）人： | 许剑锋;于洪森;张熙;杜菁;谢思维;彭旗宇 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 孔娜;李智 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 高分辨率 正电子 发射 计算机 断层 显像 系统 | ||
1.一种高分辨率的正电子发射型计算机断层显像系统，其特征在于，包括探测器和多通道读出电子电路，其中：
所述探测器包括多个探测器模块，该多个探测器模块相互耦合共同构成一环状的检测空间；所述探测器模块包括由内至外依次设置的闪烁晶体(1)、楔形光导(2)、硅光电倍增管阵列(4)，所述闪烁晶体(1)包括多个晶条(6)，且晶条(6)间均设置有反射镀层(5)；所述多通道读出电子电路用于处理所述探测器输出的电信号，进而完成成像。
2.如权利要求1所述的高分辨率的正电子发射型计算机断层显像系统，其特征在于，所述闪烁晶体(1)包括呈阵列状的多个晶条(6)，所述硅光电倍增管阵列(4)包括呈阵列状的多个硅光电倍增管(3)，且一个硅光电倍增管(3)对应耦合多个晶条(6)。
3.如权利要求1所述的高分辨率的正电子发射型计算机断层显像系统，其特征在于，所述晶条(6)横截面尺寸小于0.5mm×0.5mm。
4.如权利要求1所述的高分辨率的正电子发射型计算机断层显像系统，其特征在于，所述楔形光导(2)由亚克力或透明树脂制成。
5.如权利要求1所述的高分辨率的正电子发射型计算机断层显像系统，其特征在于，所述反射镀层(5)为硫酸钡镀层。
6.如权利要求1所述的高分辨率的正电子发射型计算机断层显像系统，其特征在于，所述多通道读出电子电路包括依次相连的数据传输排线、电路模拟板和FPGA，所述硅光电倍增管阵列(4)通过数据传输排线与电路模拟板相连。
7.如权利要求1-6任一项所述的高分辨率的正电子发射型计算机断层显像系统，其特征在于，还包括机架，其通过光敏树脂3D打印而成，所述探测器和多通道读出电子电路分别安装在该机架两端。
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