[发明专利]一种配件合格率的预测方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种配件合格率的预测方法，其特征在于，所述方法包括：

根据待预测样本的历史合格率，以及输入层节点与隐含层节点之间的第一连接权值，和隐含层节点的第一阈值，确定隐含层节点的输入数据；

根据所述隐含层节点的输入数据和预设隐含层计算公式，确定隐含层节点的输出数据；

根据所述隐含层节点的输出数据，以及隐含层节点与输出层节点之间的第二连接权值，和输出层节点的第二阈值，确定输出层节点的输入数据；

根据所述输出层节点的输入数据和预设输出层计算公式，确定配件合格率的预测结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在根据待预测样本的历史合格率，以及输入层节点与隐含层节点之间的第一连接权值和第一阈值，确定隐含层节点的输入数据之前，还包括：

根据初始权值和初始阈值，基于遗传算法，确定满足迭代要求的第一连接权值、第二连接权值、第一阈值和第二阈值；其中，所述初始权值包括第一连接权值对应的第一初始权值和第二连接权值对应的第二初始权值，所述初始阈值包括第一阈值对应的第一初始阈值和第二阈值对应的第二初始阈值。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据初始权值和初始阈值，基于遗传算法，确定满足迭代要求的第一连接权值、第二连接权值、第一阈值和第二阈值，包括：

将初始权值和初始阈值的实数串确定为遗传算法中的初始染色体；

根据遗传算法中的选择、交叉和变异操作，将所述初始染色体进化为候选染色体，根据预设的适应度函数得到候选染色体的候选适应度值；

从候选适应度值中选择符合预设迭代要求的目标适应度值，得到目标染色体；

根据目标染色体的实数串，确定第一连接权值、第二连接权值、第一阈值和第二阈值。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据待预测样本的历史合格率，以及输入层节点与隐含层节点之间的第一连接权值，和隐含层节点的第一阈值，确定隐含层节点的输入数据，包括：

根据如下公式确定隐含层节点的输入数据：

其中，所述隐含层节点的数量为至少一个，H_j为第j个隐含层节点的输入数据，w_ij为第i个待预测样本与第j个隐含层之间的第一连接权值，x_i为第i个待预测样本的历史合格率，a_j为第j个隐含层节点的第一阈值，i∈[1,m]。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述隐含层节点的输入数据和预设隐含层计算公式，确定隐含层节点的输出数据，包括：

根据如下公式确定隐含层节点的输出数据：

其中，net_j为第j个隐含层节点的输出数据。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述隐含层节点的输出数据，以及隐含层节点与输出层节点之间的第二连接权值，和输出层节点的第二阈值，确定输出层节点的输入数据，包括：

根据如下公式确定输出层节点的输入数据：

其中，所述输出层节点的数量为一个，O为输出层节点的输入数据，t_j为第j个隐含层节点与输出层节点之间的第二连接权值，b为第二阈值。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述输出层节点的输入数据和预设输出层计算公式，确定配件合格率的预测结果，包括：

根据如下公式确定配件合格率的预测结果：

其中，y为配件合格率的预测结果。