[发明专利]差错纠正比特在审

专利信息
申请号: 202011553026.0 申请日: 2020-12-24
公开(公告)号: CN113066521A 公开(公告)日: 2021-07-02
发明(设计)人: 马克·杰拉尔德·拉文;西蒙·约翰·克拉斯克 申请(专利权)人: ARM有限公司
主分类号: G11C29/42 分类号: G11C29/42
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 代理人: 郭妍
地址: 英国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 差错 纠正 比特
【权利要求书】:

1.一种数据处理装置,包括:

存储电路,包括多条线,所述多条线中的每一者包括数据值;以及

访问电路,用于一次访问所述多条线中的一对线,所述多条线中的所述一对线包括与所述数据值不同的额外数据值,并且包括多个差错比特,所述多个差错比特用于检测或纠正所述多条线中的所述一对线中的每条线中的数据值中的差错。

2.根据权利要求1所述的数据处理装置,包括:

许可电路,用于检查所述额外数据值以确定所述数据值的访问者是否被许可访问所述数据值。

3.根据任何在前权利要求所述的数据处理装置,其中

所述额外数据值指示出所述多条线中包含有所述额外数据值的所述一对线的拥有者。

4.根据权利要求3所述的数据处理装置,其中

所述拥有者通过与执行环境相关联的识别符被识别。

5.根据任何在前权利要求所述的数据处理装置,其中

所述额外数据值是MTE标签。

6.根据任何在前权利要求所述的数据处理装置,其中

差错比特是ECC比特。

7.根据任何在前权利要求所述的数据处理装置,其中

所述额外数据值被编码到包括以下两项中的至少一项的一组选定比特中:差错比特、以及构成所述数据值的比特中的至少一些。

8.根据权利要求7所述的数据处理装置,其中

所述差错比特包括编码形式的所述额外数据值。

9.根据权利要求8所述的数据处理装置,其中

通过对多个选定比特的反转,所述额外数据值被编码到所述一组选定比特中,其中,所述多个选定比特的位置指示出所述额外数据值。

10.根据权利要求8-9中任何一项所述的数据处理装置,其中

被反转的所述多个选定比特的数目最多等于利用所述差错比特能检测到的差错的数目。

11.根据权利要求8-10中任何一项所述的数据处理装置,包括:

测试电路,用于对利用所述多条线中的第一线的数据值生成的至少一些比较差错比特执行反转以产生反转比较差错比特,并且执行所述反转比较差错比特与所述多条线中的所述一对线中的所述第一线中的所述差错比特的比较,其中

所述差错比特和所述反转比较差错比特是利用相同算法从所述数据值生成的。

12.根据权利要求11所述的数据处理装置,包括:

多个所述测试电路,其中,每个测试电路反转不同的比较差错比特;以及

分析电路,用于识别所述多个测试电路中的反转了与所述差错比特匹配的比较差错比特的测试电路。

13.根据权利要求12所述的数据处理装置,其中

响应于所述多个测试电路中的每一者产生的反转比较差错比特均与所述差错比特不同,每个测试电路被适配为执行利用所述多条线中的所述一对线中的第二线的数据值生成的额外反转比较比特与所述多条线中的所述一对线中的所述第二线的差错比特之间的额外比较,以便确定所述数据值。

14.根据权利要求8-13中任何一项所述的数据处理装置,包括:

生成电路,用于从所述数据值生成所述差错比特,并且反转所述差错比特中的至少一些,其中

所述差错比特中的至少一些是基于所述额外数据值被选择的。

15.根据任何在前权利要求所述的数据处理装置,其中

所述数据处理装置包括第一操作模式,在该第一操作模式中所述差错比特适合于检测或纠正所述多条线中的所述一对线中的每条线中的数据值中的差错,其中所述数据值被作为单个数据值。

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