[发明专利]基于近场的大规模阵列天线OTA测试方法及系统有效
申请号: | 202011553403.0 | 申请日: | 2020-12-24 |
公开(公告)号: | CN112730998B | 公开(公告)日: | 2022-05-31 |
发明(设计)人: | 孙思扬;陈欧伟;杨蒙;刘先会;张帅;朱星辰;周北琦;赵磊 | 申请(专利权)人: | 中国信息通信研究院;普天信息工程设计服务有限公司 |
主分类号: | G01R29/10 | 分类号: | G01R29/10 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 侯天印;杨丹 |
地址: | 100191 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 近场 大规模 阵列 天线 ota 测试 方法 系统 | ||
1.一种基于近场的大规模阵列天线OTA测试方法,其特征在于,包括:
大规模阵列天线阵面控制装置接收预设的测试任务信息,所述预设的测试任务信息包括空间采样点分布、待测频点及收发波束指向状态信息;
配置测试设备及待测大规模阵列天线设备工作于CW信号模式,近场采样探头到达采样点位置后发送握手信号至大规模阵列天线阵面控制装置;
大规模阵列天线阵面控制装置响应握手信号,根据预设的测试任务信息配置近场采样探头和待测大规模阵列天线的待测工作状态,形成相应待测波束,其中待测工作状态包括收发状态、频点和波束指向;
近场采样探头遍历空间所有采样点,完成CW信号模式下三维空间所有采样点所有工作状态下的近场幅相信息采集,对于发射状态测试,待测大规模阵列天线发射相应待测波束,信息采集通过近场采样探头输出;对于接收状态测试,近场采样探头发射,信息采集通过待测大规模阵列天线波束成形网络输出;
计算设备通过近远场变换,得到CW信号模式下,待测大规模阵列天线全部工作状态下的三维空间远场EIRP方向图及远场接收特性方向图;
在一系列指定空间点位,对于每一工作状态,分别测试并记录CW模式下和宽带业务信号模式下的近场辐射功率密度,CW模式下和宽带业务信号模式下的近场灵敏度功率密度;
基于CW模式下和宽带业务信号模式下的近场辐射功率密度、CW模式下和宽带业务信号模式下的近场灵敏度功率密度、三维空间远场EIRP方向图及远场接收特性方向图,得到宽带业务信号场景下待测大规模阵列天线设备的远场全向EIRP/EIS方向图,包括:
计算宽带业务信号模式下的近场辐射功率密度TPD_M和CW模式下的近场辐射功率密度TPD_CW的差值;
计算宽带业务信号模式下近场灵敏度功率密度SPD_M和CW模式下近场灵敏度功率密度SPD_CW的差值;
计算设备计算每一工作状态下所有指定空间点位的TPD_M和TPD_CW的差值的平均值或加权平均值作为该工作状态的EIRP补偿值,与CW模式下相应三维空间远场EIRP方向图相叠加,得到宽带业务信号场景下待测大规模阵列天线设备远场全向EIRP方向图;计算每一工作状态下所有指定空间点位的SPD_M和SPD_CW的差值的平均值或加权平均值作为该工作状态的EIS补偿值,与CW模式下相应远场接收特性方向图相叠加,得到宽带业务信号场景下待测大规模阵列天线设备的远场全向EIS方向图。
2.如权利要求1所述的基于近场的大规模阵列天线OTA测试方法,其特征在于,所述指定空间点位按照相应状态下的待测波束的峰值选定。
3.如权利要求1所述的基于近场的大规模阵列天线OTA测试方法,其特征在于,所述指定空间点位按照相应状态下的多个待测波束的峰值选定。
4.一种基于近场的大规模阵列天线OTA测试系统,其特征在于,包括:大规模阵列天线控制装置、测试设备、近场采样探头和计算设备;
所述大规模阵列天线控制装置、测试设备、近场采样探头和计算设备用于:实现权利要求1至3任一项所述的基于近场的大规模阵列天线OTA测试方法。
5.一种计算机设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至3任一项所述方法。
6.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有执行权利要求1至3任一项所述方法的计算机程序。
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