[发明专利]一种散射辐射测量装置订正系数估算方法及其系统在审

专利信息
申请号: 202011554473.8 申请日: 2020-12-24
公开(公告)号: CN112737505A 公开(公告)日: 2021-04-30
发明(设计)人: 胡昌吉 申请(专利权)人: 佛山职业技术学院
主分类号: H02S50/15 分类号: H02S50/15
代理公司: 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 代理人: 朱阳波
地址: 528137 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 散射 辐射 测量 装置 订正 系数 估算 方法 及其 系统
【权利要求书】:

1.一种散射辐射测量装置订正系数估算方法,所述散射辐射测量装置包括总辐射表和遮光环,其特征在于,包括以下步骤:

建立带遮光环的第一测量模型和不带遮光环的第二测量模型;

以光伏组件替代总辐射表作为测量目标,获取第一测量模型的第一有效辐射量和第二测量模型的第二有效辐射量;

获取订正系数,所述订正系数为第二有效辐射量与第一有效辐射量的比值。

2.根据权利要求1所述的散射辐射测量装置订正系数估算方法,其特征在于,所述建立带遮光环的第一测量模型和不带遮光环的第二测量模型,具体为:通过Sketchup软件建立带遮光环的第一测量模型和不带遮光环的第二测量模型。

3.根据权利要求1所述的散射辐射测量装置订正系数估算方法,其特征在于,所述以光伏组件替代总辐射表作为测量目标,获取第一测量模型的第一有效辐射量和第二测量模型的第二有效辐射量,具体为:通过PVsyst软件获取第一测量模型的第一有效辐射量和第二测量模型的第二有效辐射量。

4.根据权利要求3所述的散射辐射测量装置订正系数估算方法,其特征在于,所述以光伏组件替代总辐射表作为测量目标,获取第一测量模型的第一有效辐射量和第二测量模型的第二有效辐射量还包括步骤:通过PVsyst软件将第一测量模型和第二测量模型按预设比例放大。

5.根据权利要求4所述的散射辐射测量装置订正系数估算方法,其特征在于,所述预设比例为光伏组件的受光面积与总辐射表的受光面积作比值。

6.根据权利要求3所述的散射辐射测量装置订正系数估算方法,其特征在于,所述第一有效辐射量为所述第一总辐射量与第一损失辐射量的差值;所述第一总辐射量由PVsyst软件中的balances and main results表格获取;所述第一损失辐射量为1。

7.根据权利要求3所述的散射辐射测量装置订正系数估算方法,其特征在于,所述第二有效辐射量为所述第二总辐射量与第二损失辐射量的差值;所述第二总辐射量由PVsyst软件中的balances and main results表格获取;所述第二损失辐射量为1。

8.一种散射辐射测量装置订正系数估算系统,其特征在于,所述散射辐射测量装置订正系数估算系统采用如权利要求1-7任一所述的散射辐射测量装置订正系数估算方法实现工作控制,包括依次连接的建模单元、仿真单元和计算单元;所述建模单元用于建立并输出第一测量模型和第二测量模型;所述仿真单元用于输出第一有效辐射量和第二有效辐射量;所述计算单元用于输出订正系数。

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