[发明专利]天馈线测量方法、装置、天馈线测量器件和测试仪

说明书

本申请涉及一种天馈线测量方法、装置、天馈线测量器件和测试仪。方法包括：获取参考中频信号，以及与参考中频信号同频的测试中频信号；其中，测试中频信号为被测天馈线反射的射频信号经处理后得到；对参考中频信号进行傅里叶变换，并采用窗函数对变换后的参考中频信号进行加窗处理，得到参考加窗信号；对测试中频信号进行傅里叶变换，并采用窗函数对变换后的测试中频信号进行加窗处理，得到测试加窗信号；根据参考加窗信号和测试加窗信号得到天馈线参数。本申请可通过数字处理方法实现天馈线的测量，不依赖于硬件的检波电路测量天馈线参数，还大大提高了测量过程中的干扰抑制能力，进而可有效地对天馈线进行测量。

技术领域

本申请涉及天馈线技术领域，特别是涉及一种天馈线测量方法、装置、天馈线测量器件和测试仪。

背景技术

由于天馈线系统中难免耦合有临近天线、馈线或其他设备的信号，因此在使用天馈线测试仪现场测试天馈线系统时，经常遇到天线耦合而来的干扰信号，影响测试的进行。特别是在收发信台站的天馈线现场测试中，由于巡查时临近的天线处于发报状态，因此会极大地干扰被测天馈线，严重影响测试效果，甚至出现严重的误判，导致无法对天馈线进行有效的测量。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够对天馈线进行有效测量，以得到准确天馈线参数的天馈线测量方法、装置、天馈线测量器件和测试仪。

第一方面，本申请实施例提供了一种天馈线测量方法，该方法包括：

获取参考中频信号，以及与参考中频信号同频的测试中频信号；其中，测试中频信号为被测天馈线反射的射频信号经处理后得到；对参考中频信号进行傅里叶变换，并采用窗函数对变换后的参考中频信号进行加窗处理，得到参考加窗信号；对测试中频信号进行傅里叶变换，并采用窗函数对变换后的测试中频信号进行加窗处理，得到测试加窗信号；根据参考加窗信号和测试加窗信号得到天馈线参数。

在其中一个实施例中，根据参考加窗信号和测试加窗信号得到天馈线参数的步骤，包括：确定目标频点在参考加窗信号中对应的参考矢量值，以及目标频点在测试加窗信号中对应的测试矢量值；根据参考矢量值和测试矢量值，得到天馈线参数。

在其中一个实施例中，天馈线参数包括反射系数；反射系数为测试矢量值的幅度与参考矢量值的幅度之比。

在其中一个实施例中，天馈线参数包括相位差；

根据参考矢量值和测试矢量值，得到天馈线参数的步骤，包括：根据测试相位角和参考相位角，确定相位差；其中，测试相位角为测试矢量值的相位角，参考相位角为参考矢量值的相位角。

在其中一个实施例中，根据测试相位角和参考相位角，确定相位差的步骤，包括：在测试相位角小于参考相位角的情况下，将测试相位角与参考相位角之差确认为相位差；在测试相位角大于参考相位角的情况下，计算360°与参考相位角之间的差值，并将差值与测试相位角之和确认为相位差。

在其中一个实施例中，窗函数为矩形窗函数。

第二方面，本申请实施例提供了一种天馈线测量装置，包括中频信号获取模块、参考加窗信号获取模块、测试加窗信号获取模块和参数测量模块。其中，中频信号获取模块用于获取参考中频信号和测试中频信号；测试中频信号为处理被测天馈线反射的射频信号后得到的信号；参考加窗信号获取模块用于对参考中频信号进行傅里叶变换，并采用窗函数对变换后的参考中频信号进行加窗处理，得到参考加窗信号；测试加窗信号获取模块用于对测试中频信号进行傅里叶变换，并采用窗函数对变换后的测试中频信号进行加窗处理，得到测试加窗信号；参数测量模块用于根据参考加窗信号和测试加窗信号得到天馈线参数。

第三方面，本申请实施例提供了一种天馈线测量器件，包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，处理器执行计算机程序时实现上述任一实施例中天馈线测量方法的步骤。

第四方面，本申请实施例提供了一种天馈线测试仪，包括上述任一实施例的天馈线测量器件。