[发明专利]一种自动采集吸收谱实验数据的控制方法有效

专利信息
申请号: 202011557536.5 申请日: 2020-12-25
公开(公告)号: CN112763432B 公开(公告)日: 2023-04-28
发明(设计)人: 刘海岗;张祥志;郭智;许子健;王勇;邰仁忠 申请(专利权)人: 中国科学院上海高等研究院
主分类号: G01N21/27 分类号: G01N21/27
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人: 邓琪
地址: 201210 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 自动 采集 吸收 实验 数据 控制 方法
【权利要求书】:

1.一种自动采集吸收谱实验数据的控制方法,其特征在于,包括:

步骤S1,构建一实验系统,该实验系统包括光束线模块、实验站模块以及中央控制及数据采集模块;

步骤S2,在中央控制及数据采集模块的显示界面中观察到达所述实验站模块的光强变化,根据所述光强变化制作光束线状态参数列表;包括:

步骤S21,对波荡器的Gap值和Shift值进行调节,以分别确定在不同的能量范围时,使光通量保持在最大状态的Gap值和Shift值;

步骤S22,制作一个联调文件EPU_file,该联调文件EPU_file包括对应于不同的能量范围的Gap值和Shift值;

步骤S23,设置光束线调整时间阈值;

步骤S24,将所述联调文件EPU_file以及光束线调整时间阈值保存至一张列表中,将该列表作为光束线状态参数列表;

步骤S3,通过所述中央控制及数据采集模块的采集模块,采集所述实验站模块中的温度、磁场、电压以及电流信息,根据所述温度、磁场、电压以及电流信息制作原位实验条件参数列表;

步骤S4,获取所述实验站模块中待测样品的历史实验数据,根据所述历史实验数据制作能量扫描参数列表;

步骤S5,对所述实验站模块中的待测样品进行定位,获取待测样品的待测位置,根据获取的待测位置制作位置坐标参数列表;

步骤S6,从所述光束线状态参数列表、原位实验条件参数列表、能量扫描参数列表以及位置坐标参数列表中提取一行或若干行参数,将提取出的若干行参数存储至所述中央控制及数据采集模块的控制模块中;

步骤S7,所述控制模块对存储的若干行参数进行处理,在实验时自动选取实验所需的入射光、原位实验条件、实验数据采集方式以及待测样品的最佳位置。

2.根据权利要求1所述的自动采集吸收谱实验数据的控制方法,其特征在于,所述步骤S4中获取待测样品的历史实验数据的方法为:根据待测样品中的元素名称,查询待测样品已保存的所有实验数据,并找出与当前时间最接近的实验数据,将与当前时间最接近的实验数据作为待测样品的历史实验数据。

3.根据权利要求1所述的自动采集吸收谱实验数据的控制方法,其特征在于,所述步骤S4中获取待测样品的历史实验数据的方法为:找出与待测样品类似的标准样品,对所述标准样品进行测量,获取该标准样品的实验数据,将该标准样品的实验数据作为待测样品的历史实验数据。

4.根据权利要求1所述的自动采集吸收谱实验数据的控制方法,其特征在于,所述步骤S5包括:

步骤S511,对入射光进行调节,调节完毕后将实验站模块中的雅格晶体移入光路;

步骤S512,通过实验站模块中的摄像头观察所述雅格晶体上的光斑位置,并在中央控制及数据采集模块的摄像头显示界面中标注当前的光斑位置;

步骤S513,保持摄像头显示界面固定不动,将实验站模块中的样品托移入光路,并记录所述样品托上待测样品的中心位置,将记录的中心位置保存至新的列表中,构成位置坐标参数列表。

5.根据权利要求1所述的自动采集吸收谱实验数据的控制方法,其特征在于,所述步骤S5包括:

步骤S521,对入射光进行调节,调节完毕后将实验站模块中的雅格晶体移入光路;

步骤S522,通过实验站模块中的摄像头观察所述雅格晶体上的光斑位置,并在中央控制及数据采集模块的摄像头显示界面中标注所述雅格晶体左右两侧的光斑位置;

步骤S523,保持摄像头显示界面固定不动,将实验站模块中的样品托移入标注的光斑位置的中间位置,并记录所述样品托上待测样品的中心位置,将记录的中心位置保存至位置坐标参数列表中。

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