[发明专利]一种光纤端面几何测试纤芯注入光源控制方法在审

专利信息
申请号: 202011557785.4 申请日: 2020-12-25
公开(公告)号: CN112697393A 公开(公告)日: 2021-04-23
发明(设计)人: 于竞雄;茅昕;胡远鹏;张智恒;刘懋恂;熊壮 申请(专利权)人: 长飞光纤光缆股份有限公司
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00;G01M11/02
代理公司: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 代理人: 胡建平;孙方旭
地址: 430073 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 光纤 端面 几何 测试 注入 光源 控制 方法
【权利要求书】:

1.一种光纤端面几何测试纤芯注入光源控制方法,其特征在于,该方法包括以下步骤,

步骤一,待测光纤A端和B端,分别耦合进光纤测试设备输出端和输入端;

步骤二,测试设备通过控制内部白光源、单色仪、光学透镜组,通过控制光学组件运动完成光学路径切换,完成不涉及光纤芯层几何图像相关的参数测试流程;

步骤三,保持设备输出端内部光学路径及光学组件不动,仅将单色仪工作波长调整到预设波长;

步骤四,将设备输入端内部光学路径及光学组件切换到光纤端面几何测试状态,准备进行光纤B端端面图像采集;

步骤五,调整单色仪输出光源波长,直至单色仪输出注入A端光纤纤芯内的光源使得光纤芯层实现满注入状态;

步骤五,采集光纤B端端面几何图像;

步骤六,运算光纤端面几何参数,测试完成。

2.根据权利要求1所述的光纤端面几何测试纤芯注入光源控制方法,其特征在于,通过调节单色仪输出光波长,将输出光作为光纤注入光,点亮光纤芯层,进行光纤端面几何测试,并根据不同波长注入光在光纤中衰耗不同,在工作波长附件调节中心波长,通过波长变动控制待测光纤端面芯层亮度。

3.根据权利要求1所述的光纤端面几何测试纤芯注入光源控制方法,其特征在于,进行光纤端面几何测试时,单色仪需满足设备输入端图像采集设备的光学响应,至少包括650nm~980nm范围。

4.根据权利要求1所述的光纤端面几何测试纤芯注入光源控制方法,其特征在于,光纤端面几何测试过程中,通过在设备输入端内部增加反射镜或半透半反镜装置,实现由光纤A端注入到光纤B端的光反射,再次由B端入射传输到A端,再由A端半透半反镜装置,实现A端图像采集装置对A端光纤端面几何图像的采集,获得A端光纤端面几何参数测量。

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