[发明专利]基于小波变换的产品表面缺陷检测方法、存储器和处理器

权利要求书

1.基于小波变换的产品表面缺陷检测方法，其特征在于，包括：

获取原始图像；

输入小波核尺寸和小波方向，所述小波核尺寸的范围为15*15～60*60，所述小波方向的范围为0～2π，采用Gabor小波函数进行小波变换，计算小波核；Gabor小波函数包括5个输入参数，其中，相位偏移、长宽比和标准差为固定参数，在实际检测前已设定；波长和方向为可变参数，在实际检测过程中在预设范围内可调；所述波长为小波核尺寸与比例系数的乘积，所述比例系数设定为经验常数；

利用生成的小波核与原始图像进行卷积运算，得到滤波图像；

基于滤波图像，采用滞后阈值的方式提取缺陷区域。

2.根据权利要求1所述的基于小波变换的产品表面缺陷检测方法，其特征在于，得到滤波图像后，将滤波图像数据转换到Byte格式，并拉伸灰度到0到255区间。

3.根据权利要求1所述的基于小波变换的产品表面缺陷检测方法，其特征在于，对于不规则产品，将产品图像裁剪成多个规则图像的组合，计算规则图像小波变换后小波核的水平方向和垂直方向。

4.根据权利要求1所述的基于小波变换的产品表面缺陷检测方法，其特征在于，基于滤波图像，采用滞后阈值的方式提取缺陷区域的步骤进一步包括：设置两个阈值C0,C1,先利用阈值C0二值化图像获取缺陷区域R0，再利用C1遍历R0邻近像素灰度值，若灰度在[C1,C0]之间，则将该像素的位置加入到R0区域，如此迭代，直到R0周围像素灰度均小于C1。

5.一种存储器，其特征在于，其上存储有程序指令，所述程序指令被处理器执行时实现如权利要求1-4中任一项所述的检测方法。

6.一种处理器，其特征在于，所述处理器用于运行程序，其中，所述程序运行时执行权利要求1-4中任一项所述的检测方法。