[发明专利]用于半导体芯片封装的芯片定位方法在审
申请号: | 202011559926.6 | 申请日: | 2020-12-25 |
公开(公告)号: | CN112541949A | 公开(公告)日: | 2021-03-23 |
发明(设计)人: | 权家庆;许鹏飞;郭优优;陈昊;陈志宏 | 申请(专利权)人: | 铜陵三佳山田科技股份有限公司 |
主分类号: | G06T7/73 | 分类号: | G06T7/73;H01L21/68 |
代理公司: | 铜陵市天成专利事务所(普通合伙) 34105 | 代理人: | 范智强 |
地址: | 244000 安徽省*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 半导体 芯片 封装 定位 方法 | ||
1.用于半导体芯片封装的芯片定位方法,包括如下步骤:
S1,以芯片条带的边角点为初始定位点,移动相机让初始定位点出现在相机视场内;
S2,通过图像处理算法,搜寻S1步骤中的相机视场内的所有完整芯片;计算初始定位点的中心坐标;
S3,相机沿X轴位移N1个步距,沿Y轴位移M1个步距;
S4,通过图像处理方法,搜寻S3步骤中的相机视场内的所有完整芯片;芯片完整,则该位置为一次定位点;计算一次定位点的中心坐标;
S5,相机沿X轴位移N2个步距,该位置为二次定位点;计算二次定位点的中心坐标;
S6,相机沿Y轴位移M2个步距,该位置为三次定位点;计算三次定位点的中心坐标;
S7,相机沿X轴位移N2个步距,其方向与S5步骤中的位移方向相反,该位置为四次定位点;计算四次定位点的中心坐标。
2.根据权利要求1所述的用于半导体芯片封装的芯片定位方法,其特征是所述步骤S3中的N1值为1~3,M1值为1~3。
3.根据权利要求1所述的用于半导体芯片封装的芯片定位方法,其特征是所述步骤S5中的N2值由条带总长、行列芯片数目和步距信息计算得出。
4.根据权利要求1至3中任意一项所述的用于半导体芯片封装的芯片定位方法, 其特征是步骤S4中,若相机视场内芯片不完整,则重复步骤S3。
5.根据权利要求4所述的用于半导体芯片封装的芯片定位方法,其特征是所述步骤S5、S6、S7中,若相机视场内芯片不完整,则调整移动步距数,重复该步骤。
6.根据权利要求5所述的用于半导体芯片封装的芯片定位方法,其特征是所述相机视场的面积至少覆盖一个完整芯片。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于铜陵三佳山田科技股份有限公司,未经铜陵三佳山田科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202011559926.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。