[发明专利]一种提高AlN单晶质量的装置和方法在审

专利信息
申请号: 202011560565.7 申请日: 2020-12-25
公开(公告)号: CN112746326A 公开(公告)日: 2021-05-04
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 哈尔滨化兴软控科技有限公司
主分类号: C30B29/40 分类号: C30B29/40;C30B23/00
代理公司: 哈尔滨市伟晨专利代理事务所(普通合伙) 23209 代理人: 桑林艳
地址: 150000 黑龙江省哈尔*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: 一种 提高 aln 质量 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种提高AlN单晶质量的装置,其特征在于,包括:底座(1)、钽坩埚(2)、多晶片(4)、导流罩(5)、籽晶(6)、碳化钽片(7)和上盖(8),所述钽坩埚(2)安装在底座(1)与上盖(8)之间,在钽坩埚(2)的顶部开口上盖合有碳化钽片(7),其在碳化钽片(7)内壁上粘贴有籽晶(6);所述多晶片(4)和导流罩(5)位于钽坩埚(2)内,在钽坩埚(2)内壁上加工有阶梯状台肩,阶梯状台肩与钽坩埚(2)内底之间形成长晶区,所述长晶区用来放置长晶粉料(3),所述多晶片(4)放置在长晶粉料(3)上,所述导流罩(5)安装在阶梯状台肩上,用来将长晶粉料(3)生成的气体导向籽晶(6)的中心处。

2.如权利要求1所述的一种提高AlN单晶质量的装置,其特征在于:所述导流罩(5)为上截面小于下截面的正圆台型,导流罩(5)顶部导流孔的内径小于籽晶(6)的外径,导流罩(5)底部导流孔的内径大于多晶片(4)的外径。

3.如权利要求1或2所述的一种提高AlN单晶质量的装置,其特征在于:所述多晶片(4)为圆形氮化铝多晶体,其与长晶区的钽坩埚(2)内壁为间隙配合。

4.如权利要求3所述的一种提高AlN单晶质量的装置,其特征在于:所述间隙为5-10mm。

5.一种提高AlN单晶质量的方法,采用权利要求1-4任一项所述的装置进行制备,其特征在于,具体包括以下步骤:

步骤1、将钽坩埚(2)与底座(1)进行装配,将长晶粉料(3)倒入钽坩埚(2)内,并使长晶粉料(3)铺平;

步骤2、将多晶片(4)压在长晶粉料(3)上,再将导流罩(5)放置到钽坩埚(2)的阶梯状台肩上,并使多晶片(4)、导流罩(5)与钽坩埚(2)同轴设置,然后将带有籽晶(6)的碳化钽片(7)盖在钽坩埚(2)的顶部开口上,最后将上盖(8)盖在碳化钽片(7)上,通过多晶片(4)来抑制长晶粉料(3)在结晶过程中的无序挥发,同时还能吸收长晶粉(3)中的杂质,挥发的气体只能沿多晶片(4)与钽坩埚(2)内壁之间预留的间隙进行边缘升华,升华后的气体再通过导流罩(5)集中导向籽晶(6)的中心;

步骤3、先将装置放入生长炉内,并进行抽真空处理,然后向炉内充氮气,将炉内压力控制在600-700torr,最后将炉内加热至2000-2100℃;

步骤4、单晶的生长时间为100-140小时。

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