[发明专利]一种三维铁电存储器件的制造方法在审
申请号: | 202011562885.6 | 申请日: | 2020-12-25 |
公开(公告)号: | CN112736083A | 公开(公告)日: | 2021-04-30 |
发明(设计)人: | 孔繁生;周华 | 申请(专利权)人: | 光华临港工程应用技术研发(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L27/11507 | 分类号: | H01L27/11507;H01L27/11514;H01L29/06;H01L29/10;H01L29/423 |
代理公司: | 北京磐华捷成知识产权代理有限公司 11851 | 代理人: | 谢栒 |
地址: | 201306 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 三维 存储 器件 制造 方法 | ||
1.一种三维铁电存储器件的制造方法,其特征在于,包括:
提供衬底;
对所述衬底进行掺杂,以形成源极;
在所述衬底上形成栅极;
形成覆盖所述衬底的层间介电层;
图案化所述层间介电层和所述栅极,以形成露出所述源极的孔洞;
在所述孔洞中沉积沟道材料层,以形成所述栅极环绕的数条纳米线;
对所述沟道材料层进行掺杂,以形成漏极;
在所述漏极上形成铁电电容器。
2.如权利要求1所述的三维铁电存储器件的制造方法,其特征在于,所述铁电电容器由下至上依次包括第一电极层,铁电材料层和第二电极层。
3.如权利要求2所述的三维铁电存储器件的制造方法,其特征在于,所述铁电材料层包括HfO2或CuInP2S6。
4.如权利要求1所述的三维铁电存储器件的制造方法,其特征在于,在所述孔洞中沉积所述沟道材料层之前还包括:
在所述孔洞的侧壁上形成栅极介电层。
5.如权利要求1所述的三维铁电存储器件的制造方法,其特征在于,所述纳米线包括多晶硅。
6.如权利要求1所述的三维铁电存储器件的制造方法,其特征在于,在所述衬底上形成栅极之前还包括:
在所述衬底上形成隔离层。
7.如权利要求6所述的三维铁电存储器件的制造方法,其特征在于,在所述衬底上形成栅极包括:
在所述隔离层上形成栅极材料层;
图案化所述栅极材料层,以形成栅极。
8.如权利要求1所述的三维铁电存储器件的制造方法,其特征在于,在形成所述铁电电容器之后还包括:
图案化所述层间介电层,以分别形成露出所述源极和所述栅极的开口;
在所述开口中填充导电材料,以分别形成与所述源极和所述栅极相接的互连结构。
9.如权利要求1所述的三维铁电存储器件的制造方法,其特征在于,还包括重复上述步骤,以形成多层层叠的存储器件结构。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的