[发明专利]一种三维铁电存储器件的制造方法在审

专利信息
申请号: 202011562885.6 申请日: 2020-12-25
公开(公告)号: CN112736083A 公开(公告)日: 2021-04-30
发明(设计)人: 孔繁生;周华 申请(专利权)人: 光华临港工程应用技术研发(上海)有限公司
主分类号: H01L27/11507 分类号: H01L27/11507;H01L27/11514;H01L29/06;H01L29/10;H01L29/423
代理公司: 北京磐华捷成知识产权代理有限公司 11851 代理人: 谢栒
地址: 201306 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 三维 存储 器件 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种三维铁电存储器件的制造方法,其特征在于,包括:

提供衬底;

对所述衬底进行掺杂,以形成源极;

在所述衬底上形成栅极;

形成覆盖所述衬底的层间介电层;

图案化所述层间介电层和所述栅极,以形成露出所述源极的孔洞;

在所述孔洞中沉积沟道材料层,以形成所述栅极环绕的数条纳米线;

对所述沟道材料层进行掺杂,以形成漏极;

在所述漏极上形成铁电电容器。

2.如权利要求1所述的三维铁电存储器件的制造方法,其特征在于,所述铁电电容器由下至上依次包括第一电极层,铁电材料层和第二电极层。

3.如权利要求2所述的三维铁电存储器件的制造方法,其特征在于,所述铁电材料层包括HfO2或CuInP2S6

4.如权利要求1所述的三维铁电存储器件的制造方法,其特征在于,在所述孔洞中沉积所述沟道材料层之前还包括:

在所述孔洞的侧壁上形成栅极介电层。

5.如权利要求1所述的三维铁电存储器件的制造方法,其特征在于,所述纳米线包括多晶硅。

6.如权利要求1所述的三维铁电存储器件的制造方法,其特征在于,在所述衬底上形成栅极之前还包括:

在所述衬底上形成隔离层。

7.如权利要求6所述的三维铁电存储器件的制造方法,其特征在于,在所述衬底上形成栅极包括:

在所述隔离层上形成栅极材料层;

图案化所述栅极材料层,以形成栅极。

8.如权利要求1所述的三维铁电存储器件的制造方法,其特征在于,在形成所述铁电电容器之后还包括:

图案化所述层间介电层,以分别形成露出所述源极和所述栅极的开口;

在所述开口中填充导电材料,以分别形成与所述源极和所述栅极相接的互连结构。

9.如权利要求1所述的三维铁电存储器件的制造方法,其特征在于,还包括重复上述步骤,以形成多层层叠的存储器件结构。

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