[发明专利]图像检测方法、装置、设备和存储介质

说明书

本发明公开了一种图像检测方法、装置、设备和存储介质，所述方法通过获取第一图像传感器采集的第一图像中每个像素点的像素值，并依据获取的像素值计算第一图像中每个像素点的第一梯度值；获取第二图像传感器采集第二图像中每个像素点的第二梯度值。本发明中，通过第一图像传感器采集第一图像中每个像素点的像素值，并计算得到第一梯度值，通过第二图像传感器采集第二图像中每个像素点的第二梯度值。根据第一梯度值和第二梯度值，上述梯度值能反映图像中像素点的亮度变化，进而基于图像中每一像素点的亮度变化，准确的检测图像真实的曝光状态。

技术领域

本发明涉及图像处理技术领域，特别是涉及图像检测方法、装置、设备和存储介质。

背景技术

自动曝光技术已经被广泛应用到数码相机和其他拍摄设备，自动曝光技术中通常将图像的平均亮度与设定的阈值进行比较，以此检测图像是否过曝或欠曝。在图像的平均亮度高于阈值的情况下，确定图像过曝；在图像的平均亮度低于阈值的情况下，确定图像欠曝。

然而，可能存在以下情况，在较为明亮的拍摄环境下，将偏亮但曝光正常的图像定义为过曝；在较为黑暗的拍摄环境下，将偏暗但曝光正常的图像定义为欠曝，难以准确的检测图像真实的曝光状态。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种图像检测方法、装置、设备和存储介质，解决难以准确的检测图像真实的曝光状态的技术问题。具体技术方案如下：

在本发明实施例的第一方面，首先提供了一种图像检测方法，包括以下步骤：

获取第一图像传感器采集的第一图像中每个像素点的像素值，并依据获取的像素值计算所述第一图像中每个像素点的第一梯度值；

获取第二图像传感器采集第二图像中每个像素点的第二梯度值，所述第一图像和所述第二图像分别为所述第一图像传感器和所述第二图像传感器针对同一目标采集的图像；

根据所述第一梯度值和所述第二梯度值，确定所述第一图像的曝光状态。

在本发明实施例的第二方面，还提供了一种图像检测装置，所述图像检测装置包括：

第一图像传感器，用于采集第一图像中每个像素点的像素值；

第二图像传感器，用于采集第二图像中每个像素点的第二梯度值，所述第一图像和所述第二图像分别为所述第一图像传感器和所述第二图像传感器针对同一目标采集的图像；

第一计算模块，用于依据获取的像素值计算所述第一图像中每个像素点的第一梯度值

第一确定模块，用于根据所述第一梯度值和所述第二梯度值，确定所述第一图像的曝光状态。

在本发明实施例的第三方面，还提供了一种设备，所述设备包括处理器、存储器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的指令，当其在计算机上运行时，使得计算机执行上述任一实施例所述的图像检测方法。

在本发明实施例的第四方面，还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有指令，当其在计算机上运行时，使得计算机执行上述任一实施例所述的图像检测方法。

本实施例中，通过第一图像传感器采集第一图像中每个像素点的像素值，并计算得到第一梯度值，通过第二图像传感器采集第二图像中每个像素点的第二梯度值。根据第一梯度值和第二梯度值，上述梯度值能反映图像中像素点的亮度变化，进而基于图像中每一像素点的亮度变化，准确的检测图像真实的曝光状态。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。

图1为本发明实施例中图像检测方法的流程图；

图2为本发明实施例中第一图像部分像素点的示意图；