[发明专利]图形处理方法及装置、电子设备、存储介质在审

专利信息
申请号: 202011563152.4 申请日: 2020-12-25
公开(公告)号: CN113010067A 公开(公告)日: 2021-06-22
发明(设计)人: 张文昊 申请(专利权)人: 北京小米移动软件有限公司
主分类号: G06F3/0484 分类号: G06F3/0484;G06F3/0488
代理公司: 北京善任知识产权代理有限公司 11650 代理人: 张振伟
地址: 100085 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 图形 处理 方法 装置 电子设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种图形处理方法,其特征在于,所述方法包括:

响应于检测到的第一操作,绘制与所述第一操作对应的第一痕迹;

响应于检测到的第二操作,为所述第一痕迹确定匹配图形,并以所述匹配图像更替所述第一痕迹;

响应于检测到的第三操作,调用第一函数,所述第一函数响应于检测到的第四操作,对所述匹配图形进行动态调整,生成第一匹配图形。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

响应于检测到所述第一匹配图形的轨迹点与已生成的第二匹配图形或第二痕迹的轨迹点之间的距离小于第一阈值,且小于所述第一阈值的轨迹点位于非相交的线条上,调用第二函数,所述第二函数对所述第一匹配图形进行平移,使小于所述第一阈值的轨迹点之间距离最小的点重合。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

响应于检测到的第五操作,绘制与所述第五操作对应的第三痕迹;

响应于检测所述第三痕迹的轨迹点与已生成的第三匹配图形或第四痕迹的轨迹点之间的距离小于第一阈值,且小于所述第一阈值的轨迹点位于非相交的线条上,调用第二函数,所述第二函数对所述第三痕迹进行平移,使小于所述第一阈值的轨迹点之间距离最小的点重合。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述匹配图形进行动态调整,包括:

对所述匹配图形进行以下至少之一的调整:

缩放、旋转、移动、改变线条夹角的角度。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

响应于检测到所述第一操作的第一属性,绘制所述第一痕迹的宽度与所述第一属性匹配。

6.根据权利要求1至5任一项所述的方法,其特征在于,所述第二操作包括以下操作:

超出第一设定时长按压操作,或连续点击超出第一设定数的点击操作,或第一设定按键被触碰;

所述第三操作包括以下操作:

按压拖动操作,或连续点击超出第二设定数的点击操作,或第二设定按键被触碰。

7.一种图形处理装置,其特征在于,所述装置包括:

第一检测单元,用于检测第一操作;

绘制单元,用于响应于所述第一操作,绘制与所述第一操作对应的第一痕迹;

更替单元,用于响应于所述第一检测单元检测到的第二操作,为所述第一痕迹确定匹配图形,并以所述匹配图像更替所述第一痕迹;

第一调用单元,用于响应于所述第一检测单元检测到的第三操作,调用第一函数;

生成单元,用于通过所述第一函数响应于所述第一检测单元检测到的第四操作,对所述匹配图形进行动态调整,生成第一匹配图形。

8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:

第二检测单元,用于检测所述第一匹配图形的轨迹点与已生成的第二匹配图形或第二痕迹的轨迹点之间的距离是否小于第一阈值,并检测小于所述第一阈值的轨迹点是否位于非相交的线条上;

第二调用单元,还用于响应于所述第二检测单元检测到所述第一匹配图形的轨迹点与已生成的第二匹配图形或第二痕迹的轨迹点之间的距离小于第一阈值,且小于所述第一阈值的轨迹点位于非相交的线条上,调用第二函数;

平移单元,用于通过所述第二函数对所述第一匹配图形进行平移,使小于所述第一阈值的轨迹点之间距离最小的点重合。

9.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,所述绘制单元,还用于响应于所述第一检测单元检测到的第五操作,绘制与所述第五操作对应的第三痕迹;

所述第二调用单元,还用于响应于所述第二检测单元检测所述第三痕迹的轨迹点与已生成的第三匹配图形或第四痕迹的轨迹点之间的距离小于第一阈值,且小于所述第一阈值的轨迹点位于非相交的线条上,调用第二函数;

所述平移单元,还用于通过所述第二函数对所述第三痕迹进行平移,使小于所述第一阈值的轨迹点之间距离最小的点重合。

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