[发明专利]一种PID参数整定方法、装置、存储介质和设备在审

专利信息
申请号: 202011566703.2 申请日: 2020-12-25
公开(公告)号: CN112782969A 公开(公告)日: 2021-05-11
发明(设计)人: 裘坤;李雨宽;刘志勇;吴洁芸;吴庆尉 申请(专利权)人: 浙江中控技术股份有限公司
主分类号: G05B11/42 分类号: G05B11/42
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 陈志海
地址: 310053 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 pid 参数 方法 装置 存储 介质 设备
【权利要求书】:

1.一种PID参数整定方法,其特征在于,包括:

基于工业过程模型,计算控制系统的总仿真时长;所述工业过程模型用于指示PID控制器的控制对象,所述控制系统基于所述PID控制器和所述工业过程模型构建;

根据所述总仿真时长,确定滤波器系数的取值范围;所述滤波器系数为预设表达式所包含的计算参数;所述预设表达式用于指示PID参数;

从所述取值范围内选取所述滤波器系数的取值,代入所述预设表达式中,计算得出所述PID参数的数值;

基于所述PID参数的数值,对所述控制系统进行仿真,得到动态响应数据;

将所述动态响应数据代入预设的性能指标函数中,计算得到性能评估值;所述性能评估值用于指示所述控制系统的失控概率;

从所述滤波器系数的多个所述取值中,选取目标取值;其中,所述目标取值为满足预设条件的取值;所述预设条件为:基于所述取值对应计算得到的所述性能评估值,小于预设阈值;

将所述目标取值代入所述预设表达式中,计算得出所述PID参数的整定值。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于工业过程模型,计算控制系统的总仿真时长,包括:

对所述工业过程模型进行仿真,得到所述工业过程模型的阶跃响应的起始值和稳态值;

计算所述起始值和所述稳态值之间的时间差,得到稳态时长;

根据所述稳态时长,计算得出控制系统的仿真总时长。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述从所述取值范围内选取所述滤波器系数的取值,代入所述预设表达式中,计算得出所述PID参数的数值,包括:

依据预设的取值间隔,将滤波器系数的取值范围均分为n个区间;n为正整数;

统计各个所述区间的上限值和下限值,得到n个互不相同的数值;

将n个互不相同的所述数值,作为所述滤波器系数的n个取值;

将所述滤波器系数的n个取值,分别代入所述预设表达式中,对应计算得出所述PID参数的n个数值。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述PID参数的数值,对所述控制系统进行仿真,得到动态响应数据,包括:

将所述PID参数的n个数值,分别代入到所述控制系统中,并依据预设仿真条件,对所述控制系统进行n次仿真,得到n组动态响应数据;其中,n为正整数,所述预设仿真条件为:对所述控制系统的输出设定值作单位阶跃扰动,并在控制时间大于0.5倍所述仿真总时长的情况下,对所述控制系统的输出增加1/3单位的增幅干扰。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述从所述滤波器系数的多个所述取值中,选取目标取值,包括:

从所述取值范围中选取所述滤波器系数的n个取值,n为正整数;

统计基于n个所述取值对应计算得到的n个所述性能评估值;

从n个所述性能评估值中,选取数值最小的性能评估值,作为目标性能评估值;

在确定所述目标性能评估值小于所述预设阈值的情况下,将与所述目标性能评估值对应的滤波器系数的取值,作为目标取值。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,还包括:

在确定所述目标性能评估值不小于所述预设阈值的情况下,重复执行步骤,得到新的所述目标性能评估值,直至新的所述目标性能评估值小于所述预设阈值,将与新的所述目标性能评估值对应的滤波器系数的取值,作为所述目标取值;

其中,所述步骤包括:

根据与所述目标性能评估值对应的滤波器系数的取值,调整所述滤波器系数的所述取值范围,使得所述取值范围缩小;

从调整后的所述取值范围中选取所述滤波器系数的n个取值;

统计基于n个所述取值对应计算得到的n个所述性能评估值;

从n个所述性能评估值中,选取数值最小的性能评估值,作为新的所述目标性能评估值。

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