[发明专利]多波长时间分辨荧光测量装置

权利要求书

1.一种多波长时间分辨荧光测量装置，其特征在于，包括入光路组件(1)、测量暗室基座组件(2)、测量暗室上座板组件(3)、样本镜组件(4)、光子计数组件(5)；

所述入光路组件(1)与测量暗室基座组件(2)连接，作为入射光源；

所述测量暗室基座组件(2)内设有二向色镜(203)，用于反射光线；

所述样本镜组件(4)与测量暗室基座组件(2)连接，用于对反射管线进行准直射入分析杯中，以产生透过不同滤光片波长的光线，并透过二向色镜(203)向光子计数组件(5)传播；

所述测量暗室上座板组件(3)与测量暗室基座组件(2)连接，形成测量暗室主体；测量暗室上座板组件(3)与测量暗室基座组件(2)之间设有滤光片切换装置和位置检测单元，滤光片切换装置旋转完成不同滤光片的切换，以选择不同波长的光线的通过，通过波长的光线经测量暗室上座板组件(3)内的计数透镜(305)准直后，由光子计数组件(5)采集；所述位置检测单元用于检测不同滤光片的旋转位置。

2.根据权利要求1所述的多波长时间分辨荧光测量装置，其特征在于，所述滤光片切换装置包括测量暗室上座板(301)、滤光片切换座(310)、滤光片轮轴(309)光电传感器挡片(311)、同步带轮(312)、旋转电机(209)；

所述计数透镜305固定在测量暗室上座板组件(3)上；所述滤光片切换座(310)通过滤光片轮轴(309)与测量暗室上座板(301)转动连接；所述滤光片切换座(310)内设有多个可通过不同波长的滤光片，所述滤光片轮轴(309)上设有同步带轮(312)，所述旋转电机(209)通过同步带与同步带轮(312)连接，所述滤光片轮轴(309)下端设有光电传感器挡片(311)，所述测量暗室主体内设有光电开关(214)，光电开关(214)检测光电传感器挡片(311)的位置以检测不同滤光片的旋转位置。

3.根据权利要求2所述的多波长时间分辨荧光测量装置，其特征在于，所述计数透镜(305)通过透镜帽(302)固定在在测量暗室上座板(301)上的孔中，并通过压圈锁住。

4.根据权利要求2所述的多波长时间分辨荧光测量装置，其特征在于，所述测量暗室上座板(301)上设有深沟球轴承(308)，深沟球轴承(308)通过压圈锁住在测量暗室上座板(301)孔内；所述滤光片轮轴(309)和深沟球轴承(308)内圈连接。

5.根据权利要求1所述的多波长时间分辨荧光测量装置，其特征在于，所述入光路组件(1)包括氙灯灯头(104)、氙灯插座(101)、光源镜套(105)、光源透镜(107)、入光源滤光片(110)；

所述氙灯灯头(104)插入氙灯灯座(101)中组成氙灯光源；所述光源镜套(105)与氙灯光源连接；所述光源透镜(107)、入光源滤光片(110)装入光源镜套(105)中。

6.根据权利要求5所述的多波长时间分辨荧光测量装置，其特征在于，所述光源镜套(105)通过氙灯压盖(102)与氙灯光源连接，所述氙灯压盖(102)与光源镜套(105)通过螺纹配合；

所述氙灯插座(101)外圆设有一圈法兰，法兰和光源镜套(105)之间设有多个氙灯调节垫(103)，所述氙灯调节垫(103)、光源镜套(105)均套接在氙灯插座(101)外圆上。

7.根据权利要求5所述的多波长时间分辨荧光测量装置，其特征在于，所述光源透镜(107)与入光源滤光片(110)之间设有光源隔套(108)；所述光源镜套(105)内连接有压圈，对入光源滤光片(110)轴向定位。

8.根据权利要求1所述的多波长时间分辨荧光测量装置，其特征在于，所述测量暗室基座组件(2)包括测量暗室基座(201)；所述测量暗室基座(201)内设有斜面，所述二向色镜(203)安装在测量暗室基座(201)斜面上的凹槽处，由遮光块(204)将二向色镜(203)固定在测量暗室基座(201)斜面上的凹槽内。